[发明专利]横向弛豫映射图的确定方法、装置以及磁共振成像设备有效
| 申请号: | 201811552828.2 | 申请日: | 2018-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN109633500B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
| 发明(设计)人: | 刘楠 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01R33/561 |
| 代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 刘诚 |
| 地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 横向 映射 确定 方法 装置 以及 磁共振 成像 设备 | ||
1.一种横向弛豫映射图的确定方法,其特征在于,包括:
获取多个回波信号,每个所述回波信号对应设定的回波时间;
对所述多个回波信号进行加权拟合以计算横向弛豫映射图;
基于所述横向弛豫映射图中每个拟合点的残差,更新所述横向弛豫映射图;
在更新的所述横向弛豫映射图符合预设条件的情况下,得到目标横向弛豫映射图;
其中,所述基于所述横向弛豫映射图中每个拟合点的残差,更新所述横向弛豫映射图包括:
计算所述每个拟合点的残差以及拟合的总残差;
将残差占所述总残差的比例超过预设阈值的拟合点删除,以得到更新横向弛豫映射图;
判断所述更新横向弛豫映射图中每个拟合点的残差占总残差的比例是否超过所述预设阈值;
在所述更新横向弛豫映射图中存在拟合点的残差占所述总残差的比例超过所述预设阈值的情况下,重新更新所述横向弛豫映射图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对所述多个回波信号进行加权拟合以计算横向弛豫映射图之前,所述方法还包括:
根据预设的噪声阈值对所述多个回波信号进行筛选。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个回波信号分别对应多个设定的回波时间,所述对所述多个回波信号进行加权拟合以计算横向弛豫映射图包括:
根据每个回波信号的回波时间确定该回波信号拟合的权值;
其中,回波时间长的回波信号的权值小于回波时间短的回波信号的权值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,将权值与回波时间设置为反比关系。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在更新的所述横向弛豫映射图符合预设条件的情况下,得到目标横向弛豫映射图包括:
在所述更新横向弛豫映射图中每个拟合点的残差占所述总残差的比例均未超过所述预设阈值的情况下,将该所述更新横向弛豫映射图作为目标横向弛豫映射图。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在更新的所述横向弛豫映射图符合预设条件的情况下,得到目标横向弛豫映射图包括:
记录每个所述更新横向弛豫映射图的总残差;
将所述总残差最小的更新横向弛豫映射图作为目标横向弛豫映射图。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的方法,其特征在于,所述横向弛豫包括T2弛豫和/或T2*弛豫。
8.一种横向弛豫映射图的确定装置,其特征在于,包括:
回波获取模块,用于获取多个回波信号,每个所述回波信号对应设定的回波时间;
加权拟合模块,用于对所述多个回波信号进行加权拟合以计算横向弛豫映射图;
残差更新模块,用于基于所述横向弛豫映射图中每个拟合点的残差,更新所述横向弛豫映射图;
弛豫确定模块,用于在更新的所述横向弛豫映射图符合预设条件的情况下,得到目标横向弛豫映射图;
其中,所述残差更新模块还用于计算所述每个拟合点的残差以及拟合的总残差;
将残差占所述总残差的比例超过预设阈值的拟合点删除,以得到更新横向弛豫映射图;
判断所述更新横向弛豫映射图中每个拟合点的残差占总残差的比例是否超过所述预设阈值;
在所述更新横向弛豫映射图中存在拟合点的残差占所述总残差的比例超过所述预设阈值的情况下,重新更新所述横向弛豫映射图。
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