[发明专利]一种镀膜设备的调试方法和调试机台

说明书

本发明公开了一种镀膜设备的调试方法和调试机台。调试方法步骤包括：准备测试用素玻璃；将测试用素玻璃进行镀膜；对镀膜后的测试用素玻璃进行检测，若符合标准,判定镀膜设备调试成功；若不符合标准,判定镀膜设备调试失败，执行对镀膜后的测试用素玻璃进行拔膜的步骤,并重新执行将测试用素玻璃进行镀膜的步骤。通过循环不断的检测，使镀膜设备调试出最好的参数，进行产品的大量生产,提高生产效率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种镀膜设备的调试方法和调试机台。

背景技术

随着显示技术的发展,人们对显示面板的需求量越来越大。在显示面板的制作过程中，需要对素玻璃通过镀膜设备，诸如真空离子镀膜设备(Physical Vapor Deposition，PVD)进行镀膜的操作，镀膜设备镀膜后进行后续的制作，诸如曝光显影蚀刻等，以形成显示面板。

在镀膜的过程中，因为镀膜技术以及成膜环境的要求比较高，比如说膜厚要求等，在镀膜设备重启或者产品规格以及镀膜环境发生变化后，镀膜时容易出现不符合预设要求的情况，造成产品不合格和材料的浪费。

发明内容

本发明的目的是提供一种防止镀膜设备宕机，提高素玻璃利用率的一种镀膜设备的调试方法和调试机台。

本发明公开了一种镀膜设备的调试方法，其特征在于，包括步骤：

A：准备测试用素玻璃；

B：将测试用素玻璃进行镀膜；

C：对镀膜后的测试用素玻璃进行检测，若符合标准,判定镀膜设备调试成功；若不符合标准,判定镀膜设备调试失败，执行步骤D；

D：对镀膜后的素玻璃进行拔膜，对镀膜设备进行调试后，重新执行步骤B。

可选的，所述步骤B中，还包括初始化当前拔膜次数M＝0的步骤；

所述步骤D中，还包括记录拔膜次数M＝M+1的步骤；

所述步骤D中，在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后，还包括以下步骤：

E：判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥第一预设阈值，若满足，则执行步骤F；若不满足，则执行步骤G；

F：将拔膜后的素玻璃标记为产品用素玻璃，换一片新的素玻璃，作为当前机台测试用素玻璃，重新执行步骤B；

G:以当前机台测试用素玻璃，重新执行步骤B。

可选的，所述第一预设阈值等于2。

可选的，所述步骤B中，包括记录拔膜情况的步骤，所述拔膜情况包括拔膜成功或者拔膜不成功；

其中，初始化当前拔膜情况为不成功，在步骤E中，当前拔膜次数M满足条件M≥第一预设阈值，且拔膜情况为拔膜成功时，则执行步骤F；否则，则执行步骤G。

可选的，步骤F中，标记为产品用素玻璃的玻璃，放置至镀膜设备调试成功后，作为产品加工用的素玻璃。

可选的，所述步骤B中，还包括初始化当前拔膜次数M＝0的步骤；

所述步骤D中，还包括记录拔膜次数M＝M+1的步骤；

所述步骤D中，在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后，还包括以下步骤：

E：判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥2，若满足，则执行步骤F1；若不满足，则执行步骤G；

F1：将拔膜后的测试用素玻璃再次返回B步骤,在执行完步骤B后执行步骤F2；