[发明专利]一种用于电芯卷绕工艺的CCD校准块、校准装置及方法

权利要求书

1.一种用于电芯卷绕工艺的CCD校准块，其特征在于：包括第一校准板(1)、第二校准板(2)以及将所述第一校准板(1)与所述第二校准板(2)连接为一体的连接板(3)，所述第一校准板(1)与所述第二校准板(2)平行，所述第一校准板(1)、所述第二校准板(2)和所述连接板(3)的宽度相同。

2.根据权利要求1所述的用于电芯卷绕工艺的CCD校准块，其特征在于：所述第二校准板(2)与所述第一校准板(1)背向的面设置有凸块(21)，所述凸块(21)的背面设置有凹槽(22)。

3.根据权利要求2所述的用于电芯卷绕工艺的CCD校准块，其特征在于：还包括磁钢(4)，所述磁钢(4)与所述凹槽(22)的形状和大小均相互匹配。

4.根据权利要求1所述的用于电芯卷绕工艺的CCD校准块，其特征在于：所述第一校准板(1)与所述第二校准板(2)均设置有通孔(5)。

5.一种使用权利要求1~4任意一项所述的CCD校准块的校准装置，其特征在于：包括转动机构(01)、卷针(02)和CCD校准块(03)，所述CCD校准块(03)设置于所述卷针(02)，所述卷针(02)转动设置于所述转动机构(01)。

6.根据权利要求5所述的CCD校准装置，其特征在于：所述转动机构(01)包括第一转盘(011)、夹紧件(012)和第二转盘(013)，所述夹紧件(012)转动设置于所述第一转盘(011)。

7.根据权利要求6所述的CCD校准装置，其特征在于：所述卷针(02)设置有用于夹紧电芯极片与隔离膜的开口，所述夹紧件(012)和第二转盘(013)分别与所述卷针(02)的两端连接。

8.根据权利要求5所述的CCD校准装置，其特征在于：所述第一校准板(1)与所述第二校准板(2)之间的距离与所述卷针(02)的厚度相同。

9.一种用于电芯卷绕工艺的CCD校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，固定材料：将电芯极片和隔离膜穿过卷针(02)的开口，利用卷针(02)将正极片、负极片和隔离膜夹紧；

步骤二，调节位置：转动转动机构(01)，使正负极片、隔离膜和卷针(02)宽度方向的面分别垂直于CCD镜头的拍摄方向；

步骤三，进行校准：将CCD校准块(03)安装于卷针(02)上，利用未经校准的CCD镜头(04)测量CCD校准块(03)的宽度或通孔(5)的宽度，系统根据该未经校准的CCD镜头的补偿系数、测得的宽度信息以及CCD校准块(03)或通孔(5)实际的宽度，再通过公式x/a=d/A进行计算，生成CCD校准块(03)或通孔(5)实际宽度对应的CCD镜头补偿系数，CCD镜头根据该补偿系数自动调节正确的镜头参数；其中，

x：表示校准前的CCD镜头测得的物体的宽度；

a：表示校准前的CCD镜头的补偿系数；

d：表示物体的实际宽度；

A：表示物体实际宽度对应的CCD镜头的补偿系数。

10.根据权利要求9所述的用于电芯卷绕工艺的CCD校准方法，其特征在于：步骤三中，CCD校准块(03)通过磁钢(4)吸附于卷针(02)上，此时第一校准板(1)与极片贴合，第二校准板(2)与卷针(02)贴合。