[发明专利]ARFI成像的校准

权利要求书

1.一种超声成像系统，包括：

超声换能器（100），用以：

沿着第一轴（120）朝向材料（110）发射超声推动脉冲（140），所述超声推动脉冲与第一频率、第一F数和第一焦深相关联；

沿着第一轴朝向材料发射第二超声脉冲（160），所述第二超声脉冲与第二频率、第二F数和第二焦深相关联；和

响应于第二超声脉冲而从材料接收回波信号（165）；

接收波束成形器（230），用以：

控制接收孔径以基于第一F数和第一焦深处的固定焦点对回波信号进行波束成形；和

处理器（250），用以：

确定材料响应于推动脉冲沿着所述轴的位移；

确定沿着所述轴的波束成形的回波信号的幅度；

基于材料沿着所述轴的所确定的位移和沿着所述轴的波束成形的回波信号的幅度来确定材料沿着所述轴的相对弹性；和

基于材料沿着所述轴的所确定的相对弹性来确定沿着所述轴的多个位置中的每一个处的图像的像素值；和

显示器（255），用以显示图像，

其中确定所述材料沿着所述轴的相对弹性包括确定所述材料沿着所述轴的所确定的位移与沿着所述轴的所述波束成形的回波信号的幅度的比率。

2.根据权利要求1所述的系统，其中确定所述材料响应于所述推动脉冲而沿着所述轴的位移包括：

确定所述材料的每个点处响应于所述推动脉冲沿着所述轴的最大位移，和

其中，确定所述材料沿着所述轴的相对弹性是基于所述材料的每个点处沿着所述轴的所确定的最大位移和沿着所述轴的波束成形的回波信号的幅度。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，第二频率、第二F数和第二焦深分别基本上类似于第一频率、第一F数和第一焦深。

4.一种超声成像方法，包括：

沿着第一轴（120）朝向材料（110）发射超声推动脉冲（140），所述超声推动脉冲与第一频率、第一F数和第一焦深相关联；

确定所述材料响应于所述推动脉冲的沿着所述轴的位移；

沿着所述第一轴朝向所述材料发射第二超声脉冲（160），所述第二超声脉冲与第二频率、第二F数和第二焦深相关联；

响应于所述第二超声脉冲而从所述材料接收回波信号（165）；

基于所述第一F数和所述第一焦深处的固定焦点对所述回波信号进行波束成形；

确定沿着所述轴的波束成形的回波信号的幅度；

基于所述材料沿着所述轴的所确定的位移和沿着所述轴的所述波束成形的回波信号的幅度，确定所述材料沿着所述轴的相对弹性；和

基于材料沿着所述轴的所确定的相对弹性来生成图像，

其中确定所述材料沿着所述轴的相对弹性包括确定所述材料沿着所述轴的所确定的位移与沿着所述轴的所述波束成形的回波信号的幅度的比率。

5.根据权利要求4所述的方法，其中确定所述材料响应于所述推动脉冲沿着所述轴的位移包括：

确定所述材料的每个点处响应于所述推动脉冲沿着所述轴的最大位移，和

其中所述材料沿着所述轴的相对弹性是基于所述材料的每个点处沿着所述轴的所确定的最大位移和沿着所述轴的波束成形的回波信号的幅度来确定的。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述第二频率、所述第二F数和所述第二焦深分别基本上类似于第一频率、第一F数和第一焦深。