[发明专利]显示面板测试装置及显示装置

说明书

本发明公开一种显示面板测试装置及显示装置，显示面板测试装置包括测试信号输入端、短路栅、N个单向导通组件和N个导电线路，所述测试信号输入端输入的显示面板测试信号依次经所述短路栅、单向导通组件、N个导电线路之后输出至显示面板，以对显示面板进行测试。本发明解决了现有技术中显示面板的G暗线相互干扰的问题。

技术领域

本发明涉及显示装置技术领域，特别涉及一种显示面板测试装置及显示装置。

背景技术

现有显示面板(TFT-LCD)的生产工艺中，会有一道短棒测试(Shorting BarTesting)程序，其测试原理是在显示面板的测试线路注入测试信号把面板点亮，通过控制测试程序产生一些简单的测试画面，如果面板存在缺陷(如黑点、彩点、划线和灰度不均等)，缺陷就会在这些画面显示出来，再由人工或者缺陷自动检测系统把不良面板检测出来，保证不合格的产品不进入下道IC绑定程序，避免不必要的驱动芯片(IC)以及异方性导电胶膜(ACF)等材料的浪费，提高显示面板产品的合格率、降低物耗成本。

但是在进行驱动芯片和显示面板的连接(bonding)之前，需要将短路栅(shortingbar)与连接区(Gate IC产生的信号到达玻璃端的桥梁)内的走线镭射掉，如果镭射后有两条以上走线短路，就会有G暗线发生，从而影响显示面板的显示结果。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种显示面板测试装置，实现了显示面板的G暗线相不干扰的目的。

为实现上述目的，本发明提出一种显示面板测试装置，所述显示面板测试装置包括：

测试信号输入端，用于对应接收测试设备输入的显示面板测试信号；

短路栅，所述短路栅具有公共输入端和与所述公共输入端连接的N个输出端，所述短路栅的公共输入端与所述测试信号输入端连接；

N个单向导通组件，所述单向导通组件具有输入端和输出端，所述单向导通组件自其输入端至其输出端单向导通，N个所述单向导通组件的输入端与所述短路栅的N个输出端一对一连接；

N个导电线路，N个导电线路的输入端与N个所述单向导通组件的输出端一对一连接；N个导电线路的输出端用于连接显示面板；N个导电线路自其输入端至其输出端依次分为镭射区和连接区；

所述测试信号输入端输入的显示面板测试信号依次经所述短路栅、单向导通组件、N个导电线路之后输出至显示面板，以对显示面板进行测试。

可选地，所述单向导通组件为二极管，所述二极管的阳极为输入端，所述二极管的阴极为输出端。

可选地，所述显示面板测试装置还包括扇出区，N个导电线路自其输入端至其输出端依次分为镭射区、连接区和扇出区。

可选地，所述测试信号输入端、短路栅、N个单向导通组件、N个导电线路中的至少两者设置在同一电路板上。

可选地，所述导电线路为铺设于所述电路板上的导电膜。

可选地，所述导电线路为铺设于所述电路板上的铜片。

可选地，所述导电线路为所述电路板经过蚀刻形成的导电层。

为实现上述目的，本发明还提出一种显示面板测试装置，所述显示面板测试装置包括：

M个测试信号输入端，用于对应接收测试设备输入的显示面板测试信号；

M个短路栅，每一所述短路栅具有公共输入端和与所述公共输入端连接的N/M个输出端，M个所述短路栅的公共输入端与M个所述测试信号输入端一对一连接；

N个单向导通组件，所述单向导通组件具有输入端和输出端，所述单向导通组件自其输入端至其输出端单向导通，N个所述单向导通组件的输入端与所述短路栅的N/M个输出端一对一连接；