[发明专利]提升电子设备ESD性能的方法及检测装置

说明书

本发明公开了提升电子设备ESD性能的方法及检测装置，属于电子技术领域。本发明根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作，实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的，从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及提升电子设备ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)性能的方法及检测装置。

背景技术

静电是一种客观存在的自然现象，产生的方式多种，如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是高电位、强电场、宽带电磁干扰、低电量、小电流、作用时间短、复现性差、瞬间现象多、受环境影响大。目前ESD是业界硬件设计一个难题，通常很难定位导致电子元器件的ESD异常故障位置或原因。

发明内容

针对上述问题，现提供一种旨在可根据不同的情况采用不同的处理方式提高ESD性能的提升电子设备ESD性能的方法及检测装置。

一种提升电子设备ESD性能的方法，包括下述步骤：

识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；

根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。

优选的，所述故障类型包括：

在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或

在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或

在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或

在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。

优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常对应的处理方式为：

将测试出现异常对应的所述测试点的状态修改为输出高电平，或

在所述测试点增加静电保护器件。

优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常的处理方式为：

所述目标电子设备识别接收到的校验码是否异常，若异常，则保留静电来前一次有效数据；或

对所述目标电子设备增加屏蔽罩。

优选的，在进行ESD测试时，与转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常的处理方式为：

在所述目标电子设备上增加ESD元器件。

优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常的处理方式为：

在所述目标电子设备上增加陶瓷散热片；或

在所述目标电子设备上增加金属散热片，且所述金属散热片接地。

本发明还提供了一种检测装置，用于检测电子设备的ESD性能，包括：

识别单元，用于识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；

处理单元，用于根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。

优选的，所述故障类型包括：

在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或

在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或