[发明专利]无线终端的测试系统有效

专利信息
申请号: 201811401486.4 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN111211846B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 于伟;漆一宏;张辉彬;吴济宇 申请(专利权)人: 深圳市通用测试系统有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 518102 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 无线 终端 测试 系统
【说明书】:

发明公开了一种无线终端的测试系统。该测试系统包括:屏蔽箱体;被测件,被测件为无线终端;测试天线,用于与被测件进行无线通信;吸收屏,吸收屏设置在被测件与测试天线之间,用于吸收无线电波;聚合机构,至少表面为导电材料,用于将被测件发射的无线信号反射并聚合至以测试天线为圆心、最低测试频率对应的波长的二分之一为半径的球形区域内;以及陷波机构,至少表面为吸波材料,陷波机构设置在屏蔽箱体内壁除聚合机构外的位置,陷波机构用于对被测件的直射信号进行多次反射,使得直射信号在多次反射中被吸波材料吸收掉。该测试系统可以创造一个更加纯净的测试环境,从而可以大大提高测试结果的稳定性和准确性。

技术领域

本发明涉及无线终端测试领域,尤其涉及一种无线终端的测试系统。

背景技术

无线终端产品在研发及生产中都需要进行产品测试,无线终端天线的性能是无线终端产品的重要指标,因此,无线终端的整机天线性能测试关系着产品的研发周期及产品质量。而随着无线终端技术的发展及市场需求的增加,对测试效率和测试成本都提出了新的需求。

相比无源测试而言,OTA(Over-The-Air,空间端口通信性能)测试在模拟无线终端实际使用情况下综合考察了无线终端的整机天线性能。OTA测试通过测试从无线终端在不同立体角辐射出来的能量来测定终端的总辐射功率TRP(Total Radiated Power),通过在不同立体角测试出的终端接收灵敏度测定出终端的总接收灵敏度TIS(Total IsotropicSensitivity)。完整的测试所需时间较长,例如,一次全面的单信道TIS测试需要1小时左右的测试时间。

为了解决这个问题,现有技术中提出了一种小型测试系统,通过该小型测试系统中的一个反射面将无线终端发射的多个方向的辐射信号汇聚到测试天线,使多个方向的辐射信号在测试天线处达到同相相位的叠加、功率合成,从而可以一次测得被测件发射的多个方向辐射信号的功率之和。此种测试系统尺寸小巧、操作简单,可以快速获得无线终端的辐射性能,尤其适用于无线终端性能在生产线的快速通信性能检测。

然而,对于这类小型测试系统而言,减少测量噪声、创造一个更纯净的测试环境对于获得更准确、稳定的测试结果至关重要。

发明内容

本发明的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此,本发明的一个目的在于提出一种无线终端的测试系统。该测试系统可以创造一个更加纯净的测试环境,从而可以大大提高测试结果的稳定性和准确性。

为达到上述目的,本发明一方面实施例提出的无线终端的测试系统,包括:屏蔽箱体;被测件,所述被测件为无线终端;测试天线,用于与所述被测件进行无线通信;吸收屏,所述吸收屏设置在所述被测件与所述测试天线之间,用于吸收无线电波;聚合机构,至少表面为导电材料,用于将所述被测件发射的无线信号反射并聚合至以所述测试天线为圆心、最低测试频率对应的波长的二分之一为半径的球形区域内;以及陷波机构,至少表面为吸波材料,所述陷波机构设置在所述屏蔽箱体内壁除所述聚合机构外的位置,所述陷波机构用于对所述被测件的直射信号进行多次反射,使得所述直射信号在多次反射中被所述吸波材料吸收掉。

本发明实施例的无线终端的测试系统,通过聚合机构将被测件发射的多个方向的辐射信号反射并聚合到测试天线,使多个方向的辐射信号在测试天线处达到同相相位的叠加、功率合成,从而可以一次测得被测件发射的多个方向辐射信号的功率之和,相对于传统方法所用的测试系统来说,操作更简单,测试速度更快,避免了多次重复测试操作,测试结果重复性误差小、测试结果稳定;并且,通过陷波机构将被测件发射的直射信号进行多次反射,使该直射信号在多次反射中被陷波机构上的吸波材料完全吸收掉,减少了测试噪声,避免了该直射信号影响测试结果,在较小的测试系统中创造了一个更加纯净的测试环境,大大提高了测试结果的稳定性和准确性;并且由于被测件不需要处于测试天线的平面波照射,因此,二者之间的距离可以小于传统测试系统中所需的远场距离,从而简化了测试系统结构,减小系统尺寸,尤其适用于无线终端性能在生产线的快速通信性能检测。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市通用测试系统有限公司,未经深圳市通用测试系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811401486.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top