[发明专利]一种引张线仪有效

专利信息
申请号: 201811374103.9 申请日: 2018-11-19
公开(公告)号: CN109282739B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 袁建东;马力祯;何源;张斌;张雍;蔡国柱;王少明;陈文军;陆海娇;孙国珍 申请(专利权)人: 中国科学院近代物理研究所
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 引张线仪
【权利要求书】:

1.一种引张线仪,使用电感耦合和镜像电流原理,包括:

探测件,所述探测件内具有腔体;

第一屏蔽筒,所述第一屏蔽筒与所述探测件的一端连接;

第二屏蔽筒,所述第二屏蔽筒与所述探测件的另一端连接,其中,所述第一屏蔽筒和第二屏蔽筒均包括:第一直通管部分,所述第一直通管部分与所述探测件连接;波纹管部分,所述波纹管部分的一端与所述第一直通管部分连接;以及第二直通管部分,所述第二直通管部分与所述波纹管部分的另一端连接;

用于调节所述探测件的位置的调节机构,所述调节机构包括:平衡板,所述平衡板上设置有第一通孔和第二通孔,所述平衡板由玻璃纤维材料构成;支撑件,所述支撑件通过所述第一通孔与所述探测件连接;以及调节件,所述调节件设置在所述支撑件上,通过调节所述调节件在所述支撑件上的位置实现所述探测件的位置的调节;连接件,所述连接件用于连接所述平衡板和待测件;以及

通过信号源馈入感应信号的引张线,所述引张线设置于所述腔体内,所述引张线由直径为0.5mm的铍铜材料构成;所述引张线穿过所述第一屏蔽筒和第二屏蔽筒;

其中,通过所述探测件测量当待测件相对于所述引张线产生位移变化量时所引起的电流变化量,得到所述待测件的位移变化量;

所述探测件包括设置在所述腔体中的探测条带以及用于输出所述电流变化量的输出端口,所述探测件包括四个所述输出端口,四个输出端口可以分别是A端口、B端口、C端口以及D端口,通过将对称分布的探测条带通过电感耦合测得的引张线的位移变化量引起的电流变化量IA、IB、IC以及ID,并通过数据传输电缆传输到数据处理装置,再利用数据处理装置进行电流变化量的处理,即可得到待测件的水平和竖直两方向位移变化量。

2.如权利要求1所述的引张线仪,其特征在于,所述引张线仪还包括:

紧固件,所述紧固件通过所述第二通孔实现所述平衡板与所述连接件的连接。

3.如权利要求1所述的引张线仪,其特征在于,所述引张线仪还包括:

第一连接法兰,所述第一屏蔽筒的第一直通管部分通过所述第一连接法兰与所述探测件的一端连接;以及

第二连接法兰,所述第二屏蔽筒的第一直通管部分通过所述第二连接法兰与所述探测件的另一端连接。

4.如权利要求1所述的引张线仪,其特征在于,所述引张线仪还包括用于实现所述引张线拉直的装置。

5.如权利要求1所述的引张线仪,其特征在于,所述引张线仪还包括数据处理装置,所述数据处理装置与所述四个输出端口连接,且所述数据处理装置根据下式计算所述位移变化量:

其中,IA、IB、IC以及ID分别是四个输出端口输出的电流变化量;kx,ky为乘常数,代表比例系数;xoffset,yoffset为加常数,代表探测件加工装配误差。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院近代物理研究所,未经中国科学院近代物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811374103.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top