[发明专利]一种闪烁晶体测试装置

权利要求书

1.一种闪烁晶体测试装置，其特征在于，包括：

机械模块，所述机械模块包括晶体装载单元、旋转单元和耦合单元，多个所述晶体装载单元间隔设置于所述旋转单元上，所述晶体装载单元与所述旋转单元之间滑动配合，所述耦合单元包括可移动的载物台以及位移台，所述位移台包括第一控制器和第二控制器；

探测模块，所述探测模块具有光电转换器件和数据传输单元，所述光电转换器件设置于所述位移台上，所述光电转换器件依序与安装于所述晶体装载单元中的闪烁晶体耦合，所述第一控制器和所述第二控制器分别控制所述光电转换器件在相互垂直的两个方向上平移，所述光电转换器件与所述数据传输单元通信连接；以及

数据模块，所述数据模块与所述数据传输单元通信连接。

2.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述晶体装载单元具有晶体套，所述晶体套中容置多根闪烁晶体，所述闪烁晶体依序与所述光电转换器件耦合。

3.根据权利要求2所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述晶体装载单元还包括基块，所述基块可活动的设置于所述旋转单元上，所述晶体套设置于所述基块上。

4.根据权利要求3所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述晶体装载单元还包括晶体内嵌块，所述晶体内嵌块设置于所述基块上，多个所述晶体套分别容置于所述晶体内嵌块中。

5.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述旋转单元具有外环，所述晶体装载单元间隔设置于所述外环上，所述外环与驱动设备连接。

6.根据权利要求5所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述外环外侧设置有间隔分布的第二导轨，所述第二导轨的延伸方向垂直于所述外环所在的平面，所述晶体装载单元设置于所述第二导轨上并与所述第二导轨滑动配合。

7.根据权利要求6所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述旋转单元还包括与所述外环同心布置的内环，所述内环与所述外环固定连接，所述外环通过所述内环与所述驱动设备连接。

8.根据权利要求7所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述内环上设置有射源平台，所述射源平台上设置放射源。

9.根据权利要求7所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述驱动设备具有输出轴，所述输出轴与所述内环连接，所述输出轴延伸的方向与垂直于所述内环和所述外环所在的平面。

10.根据权利要求5所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述外环所在的平面上设置有间隔分布的第二导轨，所述第二导轨的延伸方向与所述外环的直径方向重合，所述晶体装载单元设置于所述第二导轨上并与所述第二导轨滑动配合。

11.根据权利要求6或10所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述耦合单元还包括第一导轨，所述第一导轨的延伸方向平行于所述外环所在的平面，所述载物台设置于所述第一导轨上并与所述第一导轨滑动配合。

12.根据权利要求6或10所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，两套所述探测模块对称的设置于所述外环外侧，每套所述探测模块中的所述光电转换器件分别与安装于对应的所述晶体装载单元中的闪烁晶体耦合。

13.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述旋转单元形成为直线导轨，所述晶体装载单元间隔的分布于所述直线导轨上。

14.根据权利要求13所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述耦合单元还包括第一导轨，所述第一导轨的延伸方向垂直于所述直线导轨的延伸方向，所述载物台设置于所述第一导轨上并与所述第一导轨滑动配合。

15.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述旋转单元和所述耦合单元固定于基座上。