[发明专利]一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置

说明书

本发明提出一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置，其中方法包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。本发明解决了解决了当前的硬盘定位测试任务量大且定位低下的问题，具有极高技术价值及普适性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置。

背景技术

随着存储服务器内部架构密度的增高，存储服务器上外置硬盘数目也越来越多，而由于外置硬盘数量较多，当需要对硬盘定位时极为不便。现阶段的硬盘定位测试需要先区分硬盘区域，再从具体区域具体到每个硬盘进行定位测试，该种测试方法任务量大且效率低下。为解决上述问题，本发明提出一种多硬盘机型自动定位测试方法。

发明内容

本发明的目的在于，提出一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提出一种多硬盘机型自动定位测试方法，包括：

SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；

SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；

SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。

进一步的，步骤SS3中所述的待测试硬盘执行功能响应具体是指：

待测试硬盘包括闪烁单元；

当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。

进一步的，步骤SS3中，执行并调用上述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。

进一步的，所述待测试硬盘的参数信息包括：

硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的Ultra DMA模式。

进一步的，步骤SS3中，当执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，待测试硬盘未能执行功能响应时，输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息。

第二方面，本发明提出一种多硬盘机型自动定位测试装置，包括：

硬盘标识符获取模块，用于获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；

测试进程创建模块，用于依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；

硬盘定位测试模块，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。

进一步的，所述测试硬盘执行功能响应具体是指：

待测试硬盘包括闪烁单元；

当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。

进一步的，所述硬盘定位测试模块还包括参数信息输出单元；

所述参数信息输出单元，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。

进一步的，所述待测试硬盘的参数信息包括：

硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的Ultra DMA模式。

进一步的，所述硬盘定位测试模块还包括报错信息输出单元；