[发明专利]一种嵌入式技术的光电精密检测系统

权利要求书

1.一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，包括激光器、激光扫描光学系统、光电转换模块、信号采集模块、CPU控制器和计算机，所述激光扫描光学系统包括发射激光扫描光学系统和接收激光扫描光学系统；所述计算机与所述CPU控制器连接，实现人机交互功能；所述CPU控制器对所述激光器进行驱动控制；所述发射激光扫描光学系统将所述激光器发射的散状光束转为平行光束后对被测件实施扫描，所述接收激光扫描光学系统检测扫描被测件后的光信号；所述光电转换模块将所述接收激光扫描光学系统输出的光电脉冲信号进行细分处理后传输给所述信号采集模块，所述CPU控制器获取所述信号采集模块输出的电信号，并对该电信号进行整流、放大、滤波和存储。

2.根据权利要求1所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，所述光电转换模块包括脉冲细分电路和脉冲采集计数电路；所述脉冲细分电路将所述接收激光扫描光学系统输出的光电脉冲信号进行细分转换处理，所述脉冲采集计数电路采集和计数经所述脉冲细分电路细分转换后的光电脉冲信号，所述CPU控制器从所述脉冲采集计数电路获取相应的电信号。

3.根据权利要求2所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，所述脉冲细分电路采用四上升沿D触发器芯片74HC175及4选1数据选择器芯片74HC153将单个脉冲分为4个。

4.根据权利要求1所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，包括驱动控制模块、激光器驱动模块、反射镜和转镜；所述CPU控制器与所述驱动控制模块电连接，所述驱动控制模块与所述激光器驱动模块电连接，所述激光器驱动模块控制所述激光器发出激光光源，激光光源经所述反射镜反射后进入所述转镜，激光光源经所述转镜调焦后进入所述发射激光扫描光学系统。

5.根据权利要求4所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，所述发射激光扫描光学系统采用凸透镜将激光光源的散状光束转为平行光束。

6.根据权利要求4所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，包括电机驱动模块和电机，所述驱动控制模块与所述电机驱动模块电连接，所述电机驱动模块通过所述电机驱动所述转镜转动。

7.根据权利要求1所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，所述CPU控制器采用嵌入式AVR单片机。

8.根据权利要求1所述的一种嵌入式技术的光电精密检测系统，其特征在于，所述计算机配置有基于BP神经网络构建的光电畸变校正模型，所述光电畸变校正模型对光学畸变进行校正。