[发明专利]数控加工过程数据采集方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 201811339901.8 申请日: 2018-11-12
公开(公告)号: CN109634973A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 王美清;马鹏飞;边远;刘金山;徐磊;冯锦丹 申请(专利权)人: 北京航空航天大学;北京卫星制造厂有限公司
主分类号: G06F16/23 分类号: G06F16/23;G06F9/48
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘广达
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 内部数据 外部数据 数据采集 数控加工过程 装置及设备 数控加工 时间戳 线程 采集 后续数据处理 数据处理流程 数控加工状态 软件层面 软件系统 生产过程 同步采集 数控机床 时间轴 主线程 子线程 触发 监测 创建
【说明书】:

发明公开了一种数控加工过程数据采集方法、装置及设备,该方法包括:在数控加工开启时,创建附加时间戳子线程;在数控加工的生产过程中,通过主线程获取数控机床的内部数据及外部数据;触发附加时间戳子线程分别对内部数据及外部数据附加时间戳。本发明将外部数据和内部数据的采集集成到同一个软件系统中,且采用相同的数据处理流程来处理内部数据和外部数据,同时把附加时间戳的操作放在同一子线程中,不仅实现内部数据和外部数据的精确同步采集,同时在数据采集的软件层面确保了所有操作的一致性,使得采集的内部数据与外部数据的时间轴一致,便于后续数据处理,提高后续数控加工状态监测的准确性。

技术领域

本发明属于数控加工技术领域,具体涉及一种数控加工过程数据采集方法、装置及设备。

背景技术

数控加工过程是一个复杂的、自动化的、高度集中的过程,由于数控系统复杂性高,一旦发生故障,维修工作耗时耗力。因此对数控加工过程进行加工状态数据采集,可以实时监测加工状态,保证生产计划安全稳定地进行。

当前数控生产通常采用开放式数控系统,通过一系统采集数控系统内部状态数据得到数控加工过程的内部数据,通过另一系统结合外接传感器进行加工过程相关的高频信号采集得到数控加工过程的外部数据。

但采用不同的系统分别采集同一数控加工过程的内部数据及外部数据,导致内部数据与外部数据的采集无法精确同步,由于不同系统内部的执行延时不同导致两种数据时间不同步,进而影响后续加工状态监测的准确性。

发明内容

为解决以上问题,本发明提供一种数控加工过程数据采集方法、装置、设备及计算机可读存储介质,采用相同的数据处理流程来处理内部数据和外部数据,同时把附加时间戳的操作放在同一子线程中,实现内部数据和外部数据的精确同步采集,在数据采集的软件层面确保了所有操作的一致性,使得采集的内部数据与外部数据的时间轴一致,提高后续数控加工状态监测的准确性。

第一方面,本发明实施例提供了一种数控加工过程数据采集方法,所述方法包括:

在数控加工开启时,创建附加时间戳子线程;

在所述数控加工的生产过程中,通过主线程获取数控机床的内部数据及外部数据;

触发所述附加时间戳子线程分别对所述内部数据及所述外部数据附加时间戳。

结合第一方面,本发明实施例提供了上述第一方面的第一种可能的实现方式,其中,所述通过主线程获取数控机床的内部数据及外部数据,包括:

通过主线程的回调函数接收所述数控加工对应的数控系统中的服务器推送的内部数据;

通过所述主线程按照预设的采样频率从外接传感器获取外部数据。

结合第一方面,本发明实施例提供了上述第一方面的第二种可能的实现方式,其中,所述附加时间戳子线程具有最高的执行优先级;所述触发所述附加时间戳子线程分别对所述内部数据及所述外部数据附加时间戳,包括:

当获取到所述内部数据时,触发所述附加时间戳子线程将当前系统时间添加到所述内部数据中;

当获取到所述外部数据时,触发所述附加时间戳子线程将当前系统时间添加到所述外部数据中。

结合第一方面,本发明实施例提供了上述第一方面的第三种可能的实现方式,其中,所述触发所述附加时间戳子线程分别对所述内部数据及所述外部数据附加时间戳之后,还包括:

根据所述内部数据和所述外部数据,对所述数控加工的生产过程进行实时状态监控。

结合第一方面,本发明实施例提供了上述第一方面的第四种可能的实现方式,其中,所述触发所述附加时间戳子线程分别对所述内部数据及所述外部数据附加时间戳之后,还包括:

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