[发明专利]显示面板驱动电路及其误差信息的萃取方法

权利要求书

1.一种驱动电路误差信息的萃取方法，所述驱动电路误差信息指示由用于驱动发光二极管显示面板的源极驱动电路所引起的误差，其特征在于，所述发光二极管显示面板包括至少一个像素电路，所述像素电路包括至少一个场效晶体管与一个发光二极管，所述像素电路连接所述发光二极管显示面板的数据线和所述发光二极管显示面板的感测线，所述萃取方法包括：

获得发光二极管误差信息，所述发光二极管误差信息指示由所述像素电路的所述发光二极管所引起的误差；

藉由利用所述源极驱动电路去驱动所述发光二极管显示面板，获得发光二极管及驱动电路误差信息，所述发光二极管及驱动电路误差信息指示由所述发光二极管与所述源极驱动电路的感测电流或驱动电流所引起的误差；以及

根据所述发光二极管误差信息以及所述发光二极管及驱动电路误差信息，获得所述驱动电路误差信息，所述驱动电路误差信息表示由所述源极驱动电路的所述感测电流或所述驱动电流所引起的误差。

2.根据权利要求1所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述发光二极管误差信息的步骤包括：

将所述发光二极管误差信息记录到查找表中。

3.根据权利要求1所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述发光二极管及驱动电路误差信息的步骤包括：

将所述发光二极管及驱动电路误差信息记录到查找表中。

4.根据权利要求1所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述驱动电路误差信息的步骤包括：

将所述驱动电路误差信息记录到查找表中。

5.根据权利要求1所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述发光二极管误差信息的步骤包括：

藉由驱动所述像素电路，获得场效晶体管误差信息，所述场效晶体管误差信息指示由所述像素电路的所述至少一个场效晶体管所引起的误差；以及

当通过使用所述场效晶体管误差信息对所述至少一个场效晶体管的误差补偿已经完成时，获得指示由所述像素电路的所述发光二极管引起的误差的所述发光二极管误差信息。

6.根据权利要求5所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述场效晶体管误差信息的步骤包括：

控制所述源极驱动电路去感测所述至少一个场效晶体管，以获得所述场效晶体管误差信息，其中所述发光二极管被控制为不发光。

7.根据权利要求6所述的萃取方法，其特征在于，所述控制所述源极驱动电路的步骤包括：

通过所述数据线提供测试电压以驱动所述像素电路，并且通过所述感测线测量相应电压；以及

基于所述测试电压和所述相应电压之间的关系，获得指示由所述场效晶体管所引起的误差的所述场效晶体管误差信息。

8.根据权利要求6所述的萃取方法，其特征在于，所述至少一个场效晶体管包括耦接在所述发光二极管显示面板的所述数据线和所述发光二极管之间的开关场效晶体管，以及耦接在所述发光二极管显示面板的所述感测线和所述开关场效晶体管之间的感测场效晶体管，以及所述控制所述源极驱动电路感测所述至少一个场效晶体管的步骤包括：

导通所述感测场效晶体管并且关断所述开关场效晶体管。

9.根据权利要求5所述的萃取方法，其特征在于，所述获得所述发光二极管误差信息的步骤包括：

藉由使用所述场效晶体管误差信息去补偿原始测试数据以产生经补偿测试数据；

基于所述经补偿测试数据控制所述源极驱动电路以驱动所述发光二极管显示面板；以及

执行光学测量以感测所述发光二极管以便获得所述发光二极管误差信息。

10.根据权利要求9所述的萃取方法，其特征在于，所述控制所述源极驱动电路以驱动所述发光二极管显示面板的步骤包括：

通过所述数据线提供与所述经补偿测试数据相对应的经补偿测试电压以驱动所述像素电路。