[发明专利]准直器组件和射线检测设备在审

专利信息
申请号: 201811285591.6 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109273131A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 李汉平;胡跃城;赵崑 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪洋
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 准直器组件 准直器 准直 屏蔽 射线 射线检测设备 有效屏蔽 组合图案 叠置 入射
【权利要求书】:

1.一种准直器组件,包括至少第一准直器(110)和第二准直器(120),第一准直器和第二准直器被布置成能够相对于彼此运动,使得该准直器组件能够至少在第一准直模式和第二准直模式之间切换,

在第一准直模式中,第一准直器和第二准直器在准直器组件的厚度方向上彼此叠置,使得准直器组件呈现用于对入射到该准直器组件的射线进行准直和屏蔽的第一组合图案,且使得准直器组件的用于对射线进行屏蔽的部分具有第一屏蔽厚度,

在第二准直模式中,第一准直器和第二准直器在准直器组件的厚度方向上彼此叠置,使得准直器组件呈现用于对入射到该准直器组件的射线进行准直和屏蔽的第二组合图案,且使得准直器组件的用于对射线进行屏蔽的部分具有第二屏蔽厚度,并且

第一组合图案不同于第二组合图案,且第一屏蔽厚度不同于第二屏蔽厚度。

2.根据权利要求1所述的准直器组件,其中,

第一准直器包括用于对入射到第一准直器的射线进行准直和屏蔽的第一图案;并且

第二准直器包括用于对入射到第二准直器的射线进行准直和屏蔽的第二图案,第二图案和第一图案在第一准直模式和第二准直模式中的不同组合分别限定所述第一组合图案和第二组合图案。

3.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,所述第二图案不同于所述第一图案。

4.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,所述第一图案和第二图案是彼此互补的。

5.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,所述第一图案和第二图案被构造成使得在第一准直模式和第二准直模式中的一种中,所述第一图案和第二图案中的一个至少部分地嵌入所述第一图案和第二图案中的另一个中。

6.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,第一组合图案和第二组合图案中的一个不同于所述第一图案和第二图案中的每一个。

7.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,所述第一图案和第二图案中的至少一个包括MURA编码图案。

8.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,第一组合图案和第二组合图案中的一种包括MURA编码图案,另一种包括单针孔图案或多针孔图案。

9.根据权利要求2所述的准直器组件,其中,所述第一图案的用于屏蔽射线的部分具有第一厚度,所述第二图案的用于屏蔽射线的部分具有第二厚度,

第一屏蔽厚度和第二屏蔽厚度中的一个等于所述第一厚度和第二厚度之和,并且

第一屏蔽厚度和第二屏蔽厚度中的另一个在准直器组件的一些位置处等于所述第一厚度,在准直器组件的另一些位置处等于所述第二厚度。

10.根据权利要求2-9中任一项所述的准直器组件,其中,

第一准直器的第一图案包括:

多个第一透射区域(112;1120),所述多个第一透射区域被构造成允许入射到该第一准直器的射线通过该第一准直器;和

多个第一屏蔽区域(113),所述多个第一屏蔽区域界定所述多个第一透射区域并被构造成阻挡入射到该第一准直器的射线通过该第一准直器;

第二准直器的第二图案包括:

多个第二透射区域(122;1120),所述多个第二透射区域被构造成允许入射到该第二准直器的射线通过该第二准直器;和

多个第二屏蔽区域(123),所述多个第二屏蔽区域至少部分地围绕所述多个第二透射区域布置并被构造成阻挡入射到该第二准直器的射线通过该第二准直器。

11.根据权利要求10所述的准直器组件,其中,在第一准直模式和第二准直模式中的一种中所述多个第二屏蔽区域被布置成能够至少部分地嵌入所述多个第二透射区域中。

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