[发明专利]一体化基站设备测试装置、方法、存储介质和相关设备

说明书

本发明涉及无线领域，特别涉及一种一体化基站设备测试装置、方法、存储介质和相关设备。一体化基站设备由于无法通过馈线进行射频信号传导，因此，无法采用现有的测试方案实现测试。考虑到OTA测试是未来测试的演进方向，本发明实施例提出了一种施加设定温湿度环境条件下进行OTA测试的方案，将OTA测试和温湿度测试集成实现，可以在不同的温湿度环境下，进行一体化基站设备的OTA测试。

技术领域

本发明涉及无线领域，特别涉及一种一体化基站设备测试装置、方法、存储介质和相关设备。

背景技术

目前大多数基站设备的远端射频模块(RRU)部分和天线部分分开设计，中间通过馈线进行连接，例如，工作频段较低(2.6GHz、3.5GHz等)的基站设备，其结构可以如图1所示。对采用分开设计的基站设备进行的测试，包括针对天线部分的空中传输(OTA)测试和针对RRU部分的温湿度测试两个分开的测试部分。

OTA测试针对天线部分进行，测试示意图如图2所示。在微波暗室中，被测天线放置在转台系统上，通过转台系统实现被测天线的转动，并通过测量天线进行增益、方向图等的测试。微波暗室的温湿度环境为正常的室外环境条件。

温湿度测试针对RRU部分进行，包括高低温循环(温度范围：-40°～+70°、湿度：环境湿度)测试和交变湿热(温度范围：+30°～+60°、湿度：相对湿度95％±5％)测试，高低温循环测试及交变湿热测试均采用温箱测试，测试示意图如图3所示。将RRU部分放置在温箱中，将天线取下后，和RRU连接的馈线通过温箱上的测试孔引出，然后在温箱外面连接仪表，完成测试。

需要指出的是，与以往的第二代移动通信(2G)到第四代移动通信(4G)不同，第五代移动通信(5G)需要满足更加多样的业务类型与场景。为了满足国际电信联盟(ITU)定义的5G三大场景八项关键性能指标，5G系统需要逐渐面向高频段，高频段主要用于满足城市热点、郊区热点与室内场景极高的用户体验速率和峰值容量需求。2017年7月3日，工信部新增批复4.8-5GHz，24.75-27.5GHz和37-42.5GHz频段开展5G技术试验，明确释放5G面向高频段的信号。

随着频率的增加，基站设备上的RRU和天线之间使用的接插件和馈线成本越来越高，尺寸越来越小，与此同时接插件和馈线的损耗也越来越高。在此背景之下，一体化设计逐渐成为主流，将天线直接焊接在RRU上面，使基站设备的RRU和天线高度集成。

采用一体化设计的基站设备(后续简称为一体化基站设备)，例如，5G高频段基站设备，其结构可以如图4所示。由于天线与RRU采用一体化设计，无法通过馈线进行射频信号传导，因此，无法像采用分开设计的基站设备那样，实现对采用一体化设计的基站设备的测试。

如何实现对一体化基站设备的测试成为目前亟需解决的问题。

发明内容

本发明提供一种一体化基站设备测试装置、方法、存储介质和相关设备，用于解决无法实现对一体化基站设备的测试的问题。

一种一体化基站设备测试装置，所述装置包括微波暗室和温箱，其中：

所述微波暗室，用于一侧开口；

所述温箱，用于一侧开口，开口处填充透波保温材料，且所述温箱内壁设置有吸波材料，所述吸波材料的温度耐受范围满足第一设定范围，所述吸波材料的湿度耐受范围满足第二设定范围；

其中，所述微波暗室开口的一侧与所述温箱开口的一侧贴合，所述微波暗室上的开口区域与所述温箱上的开口区域存在重合区域，且所述温箱上的开口一侧区域覆盖所述微波暗室上的开口区域。

一种一体化基站设备测试方法，将一体化基站设备放置于如上所述装置中的温箱中，将测量天线放置于如上所述装置中的微波暗室中，所述方法包括：

通过所述温箱向所述一体化基站设备提供至少一种设定的温湿度环境，针对每种设定的温湿度环境：