[发明专利]开关寿命评估方法及系统

说明书

本发明实施例提供了一种开关寿命评估方法及系统，所述方法首先获取开关的固有属性参数以及外界环境对开关的影响因子，然后基于固有属性参数以及影响因子，评估出开关的寿命。通过本发明实施例中提供的开关寿命评估方法评估出开关的寿命，反映了热、电、温度循环、机械、湿度、化学环境应力对开关可靠性的影响，有效提高了开关寿命评估的准确性。

技术领域

本发明实施例涉及开关失效统计技术领域，更具体地，涉及开关寿命评估方法及系统。

背景技术

开关作为常用的机电元器件，在使用过程中通常会受到机械、热、电、湿度等多种环境应力的影响，为了保证产品的可靠性，在器件选型和产品设计过程中需要对其可靠性进行评估。

目前对开关寿命的评估主要是基于失效统计的方法进行，即对失效的开关进行统计，确定失效的开关的使用时间，即确定开关的寿命。进而以此作为参考来评估类型相同的开关的寿命。

虽然基于失效统计的方法可以确定出开关的寿命，并以此作为参考确定类型相同的开关的寿命，但是并不能准确的反映出开关在各种环境应力的影响下开关的失效变化，导致开关寿命评估精度较差。

发明内容

为克服上述问题或者至少部分地解决上述问题，本发明实施例提供了一种。

第一方面，本发明实施例提供了一种开关寿命评估方法，包括：

获取开关的固有属性参数以及外界环境对所述开关的影响因子；

基于所述固有属性参数以及所述影响因子，评估所述开关的寿命；

其中，所述影响因子包括：热应力因子、电应力因子、温度循环应力因子、机械应力因子以及湿度应力因子。

第二方面，本发明实施例提供了一种开关寿命评估系统，包括：

参数及因子获取模块，用于获取开关的固有属性参数以及外界环境对所述开关的影响因子；

寿命评估模块，用于基于所述固有属性参数以及所述影响因子，评估所述开关的寿命；

其中，所述影响因子包括：热应力因子、电应力因子、温度循环应力因子、机械应力因子以及湿度应力因子。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：

至少一个处理器、至少一个存储器、通信接口和总线；其中，

所述处理器、存储器、通信接口通过所述总线完成相互间的通信；

所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令，以执行第一方面提供的开关寿命评估方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行第一方面提供的开关寿命评估方法。

本发明实施例提供的一种开关寿命评估方法及系统，首先获取开关的固有属性参数以及外界环境对开关的影响因子，然后基于固有属性参数以及影响因子，评估出开关的寿命。通过本发明实施例中提供的开关寿命评估方法评估出开关的寿命，反映了热、电、温度循环、机械、湿度、化学环境应力对开关可靠性的影响，有效提高了开关寿命评估的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种开关寿命评估方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的一种开关寿命评估系统的结构示意图；