[发明专利]一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法

权利要求书

1.一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1、读取晶闸管阻尼回路的阻尼电容容值C_b和均压电阻阻值R_DC；

步骤2、读取晶闸管带外电路开展耐压性能测试的晶闸管电压U(t)采样数据；

步骤3、对U(t)进行平滑处理，得到平滑后的波形U_s(t)；

步骤4、截取一个周期20ms的U_s(t)数据；

步骤5、计算步骤4截取的U_s(t)数据的最大值U_max、最小值U_min以及最大值最小值出现的时间差t；

当最大值出现时刻t_max早于最小值出现时刻t_min时，即t_mint_max，所述的时间差t计算方法如下：

t＝t_min-t_max (4)；

当最大值出现时刻t_max晚于最小值出现时刻t_min时，即t_mint_max，所述的时间差t计算方法如下：

t＝20ms-(t_max-t_min) (5)；

步骤6、利用U_max、U_min、t、C_b，通过如下的公式(1)计算阻尼电容放电电流I_cb；

步骤7、通过如下的公式(2)计算得到晶闸管漏电流I_th；

2.根据权利要求1所述的一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法，其特征在于：步骤2中，所述U(t)的采样频率F大于10kHz。

3.根据权利要求2所述的一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法，其特征在于：步骤3中：所述U_s(t)的计算方法如下：

其中，Δt为采样时间间隔，Δt＝1/F。