[发明专利]一种基于机器视觉的产品缺陷识别方法在审
申请号: | 201811245269.0 | 申请日: | 2018-10-24 |
公开(公告)号: | CN109100359A | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 唐霞;包挺 | 申请(专利权)人: | 无锡科技职业学院 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 顾吉云 |
地址: | 214028 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拍摄 检测 产品缺陷 采集设备 基于机器 鉴别结果 视觉 图像识别技术 检测区域 设备成本 对设备 基准点 鉴别 图像 采集 查找 视野 | ||
本发明提供一种基于机器视觉的产品缺陷识别方法,其对设备的硬件的要求较低,不但降低了设备成本,且实现方便,易于推广应用。其包括:S1:确定采集设备的视野;S2:确定检测区域;S3:确定拍摄基准点;S4:确定采集设备每次拍摄时候的旋转角度、每次拍摄需要检测的技术特征、每个被检测产品的拍摄次数;S5:针对每次拍摄采集的图像,通过图像识别技术鉴别查找技术特征的缺陷,并把每个技术特征的分次鉴别结果用数值分别标记;S6:针对被检测产品的拍摄实施完毕后,针对每个技术特征,把所有的分次鉴别结果进行计算,得出针对每个技术特征的检测值;S7:根据每个被检测产品的所有技术特征的检测值进行计算,得出针对每个产品的产品缺陷识别值。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,具体为一种基于机器视觉的产品缺陷识别方法。
背景技术
现代工业技术中通过机器视觉技术识别产品缺陷是常用的方法,但现有技术中,通常是采用整体检测方法,对被检测工件进行一次扫描然后识别所有缺陷;当被检测工件上需要识别的项目较多的时候,不但对扫描用设备的要求比较高,且一次扫描后对多处结果共同运算,对CPU(中央处理器)运算能力要求也很高,导致缺陷识别用设备的成本居高不下。
发明内容
为了解决整体检测法对扫描用设备和CPU的性能要求比较高的问题,本发明提供一种基于机器视觉的产品缺陷识别方法,其对设备的硬件的要求较低,不但降低了设备成本,且实现方便,易于推广应用。
本发明的技术方案是这样的:一种基于机器视觉的产品缺陷识别方法,其包括以下步骤:
S1:确定图像采集设备的视野;
S2:确定被检测产品的检测区域;
S3:确定拍摄基准点;
其特征在于:其还包括下面的步骤:
S4:根据所述图像采集设备的视野、所述检测区域和所述基准点,确定所述采集设备每次拍摄时候的旋转角度、每次拍摄需要检测的技术特征、每个被检测产品的拍摄次数;
S5:针对每次拍摄采集的图像,通过图像识别技术鉴别查找所述技术特征的缺陷,并把每个所述技术特征的分次鉴别结果用数值分别标记;
S6:按照所述拍摄次数,针对被检测产品的拍摄实施完毕后,针对每个所述技术特征,把所有的所述分次鉴别结果进行计算,得出针对每个所述技术特征的检测值;
S7:根据每个被检测产品的所有所述技术特征的检测值进行计算,得出针对每个产品的产品缺陷识别值。
其进一步特征在于:
其还包括步骤S8:把所述产品缺陷识别值与预先设置在系统中的标准值进行比对,不一致的情况下,确定被检测产品存在缺陷;
步骤S5中,所述技术特征有存在缺陷的时候,所述分次鉴别结果用0标记,所述技术特征不存在缺陷的时候,所述分次鉴别结果用1标记;
步骤S6中所述技术特征的检测值的计算方法为:
V = i*v1+(i-1)*v2+……+2*vi-1+1*vi
其中:
V:表示所述技术特征的检测值,
vi:表示步骤S5中得出的每个所述技术特征的分次鉴别结果,取值为1或者0,
i:为正整数,表示在步骤S4中确定的所述拍摄次数;
步骤S7中所述产品缺陷识别值的计算方法,包括以下步骤:
a:针对每个所述技术特征在系统中预设检测值的期待值;
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