[发明专利]用于瓦楞纸板机的测量系统在审

专利信息
申请号: 201811243430.0 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN109703110A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 约尔格·冯德海登 申请(专利权)人: 特克斯玛格销售有限公司
主分类号: B31F1/28 分类号: B31F1/28;G01N25/20;G01N25/72;G01N21/3559;G01N21/3563
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;王朝辉
地址: 瑞士塔*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 瓦楞纸板机 测量系统 测量装置 胶合 运输装置 制造过程 电磁波 粘合 对准 检测 检验 运输
【权利要求书】:

1.一种用于使用在瓦楞纸板机(2)中的测量系统(1),其中,所述测量系统(1)包括测量装置(10);其特征在于,所述测量装置(10)检测在红外范围中的电磁波并且对准瓦楞纸板机(2)的运输装置(27)在运输方向(94a)上在瓦楞纸板机(2)的粘合站(22)之后的区域。

2.根据权利要求1所述的测量系统(1),其特征在于,所述测量装置(10)设计为,检测所述温度,优选所述瓦楞纸板(28)的表面温度。

3.根据权利要求2所述的测量系统(1),其特征在于,所述测量装置(10)设计为,热感地显示和分析温度分布(40a,42a)。

4.根据上述权利要求中任一项所述的测量系统(1),其特征在于,所述测量装置包括红外摄像机和/或成像的测量装置。

5.根据上述权利要求中任一项所述的测量系统(1),其特征在于,所述测量装置(10)设计为,检测所述瓦楞纸板(28)的温度分布(40a,42a),优选检测所述瓦楞纸板(28)沿着料幅宽度(92a)的温度分布(40a,42a)。

6.根据上述权利要求中任一项所述的测量系统(1),其特征在于,所述测量装置(10)包括用于分析所检测到的在红外范围中的电磁波的分析装置(14)。

7.根据权利要求6所述的测量系统(1),其特征在于,所述分析装置(14)包括具有存储器装置的计算机,其中在所述存储器装置上存储有计算机程序,用于检验第一纸料幅(24)与至少一个第二纸料幅(25,26)胶合成产品料幅(28)的制造过程,所述计算机程序设计为,执行如下步骤:

-在第一纸料幅(24)与所述至少一个第二纸料幅(25,26)胶合之后探测产品料幅(28)的热辐射,

-基于热辐射创建热感数据(30),

-分析热感数据(30),以及

-根据所述分析来评估纸张胶合的胶合品质。

8.根据权利要求7所述的测量系统(1),其中,在检测区域(31)中探测产品料幅(28)的热辐射,所述热辐射以行形式(31b)在产品料幅(28)的y方向(92)上和/或二维地(31a)在产品料幅(28)的x方向和y方向(94,92)上延伸。

9.根据上述权利要求7或8中任一项所述的测量系统(1),其中,根据所述热感数据(30)的几何分析对胶合品质进行评估。

10.根据上述权利要求7至9中任一项所述的测量系统(1),其中,所述分析包括:以位置分辨的方式确定所述几何尺寸,优选在x方向(94)上的长度(44a,46a)和/或在y方向(92)上的宽度,在热感数据(30)中的一个或多个等温区域(32a)和/或部分区域。

11.根据上述权利要求7至10中任一项所述的测量系统(1),其中,所述分析包括:关于一个或多个等温区域(32a)的热感数据(30)的呈行形式的部分区域和/或在x方向(94)上的部分区域求得积分(48)和/或面积积分。

12.根据上述权利要求10或11中任一项所述的测量系统(1),其中,根据胶合的一个或多个等温区域(32a)和/或部分区域的几何尺寸(44,46)与几何尺寸的参考值的比较和/或积分(48)的比较和/或面积积分的比较来评估胶合品质。

13.根据权利要求12所述的测量系统(1),其中,参考值包括预定的参考值和/或经由之前检验过的胶合的平均值形成,尤其是经由两个之前检验过的胶合的平均值,优选五个之前校验过的胶合的平均值和特别优选经由至少十个之前检验过的胶合的平均值形成。

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