[发明专利]基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统

权利要求书

1.一种基于难测路径选择的集成电路检测方法，其特征在于，包括：

步骤1、获取待测集成电路，根据该待测集成电路中逻辑门的逻辑及连接顺序，确定该待测集成电路中每一个逻辑门输出特定逻辑值的输出概率；

步骤2、根据该输出概率，得到该待测集成电路每一条传播路径的逻辑值跳变传播概率，并寻找低于预设值的该逻辑值跳变传播概率对应的传播路径作为待选路径；

步骤3、生成测试向量，并判断该测试向量是否能将一个逻辑值跳变从该待选路径的输入端向输出端传输，若是，则将该待选路径作为难测路径，用于检测硬件木马，否则，则删除该待选路径；

步骤2中寻找该待选路径的过程具体包括：以该待测集成电路的输出逻辑门为起点，向输入端方向寻找，选择该逻辑值跳变传播概率最小的输入连线作为跳边沿传输端，并以输出该输入连线的逻辑门作为新的起点继续向输入端方向寻找，直到到达该待测集成电路的输入端，一条待选路径寻找结束。

2.如权利要求1所述的基于难测路径选择的集成电路检测方法，其特征在于，该特定逻辑值为0或1。

3.如权利要求2所述的基于难测路径选择的集成电路检测方法，其特征在于，该步骤1还包括：

步骤11、将随机向量输入至该待测集成电路的输入端，并向该待测集成电路的输出端进行逻辑计算，以得到该待测集成电路中每一条连线的逻辑值；

步骤12、根据下式，计算该待测集成电路中每一条连线输出该特定逻辑值的动态概率；

其中，P_d(i)为第i条连线的动态概率，n为该随机向量的总数，n₁(i)指在n个随机向量输入下，连线i的逻辑值为该特定逻辑值的向量个数；

步骤13、设该特定逻辑值输入至该待测集成电路输入端的静态概率为0.5，以向该待测集成电路的输出端进行逻辑概率计算，得到该待测集成电路中每一条连线输出该特定逻辑值的静态概率；

步骤14、根据该动态概率和校准函数对该静态概率进行校准，得到该待测集成电路中每一条连线输出该特定逻辑值的校准概率，并将该校准概率作为该输出概率。

4.如权利要求3所述的基于难测路径选择的集成电路检测方法，其特征在于，步骤14中该校准函数包括：算术平均函数、几何平均函数、调和平均函数。

5.一种基于难测路径选择的集成电路检测系统，其特征在于，包括：

输出概率计算模块，用于获取待测集成电路，根据该待测集成电路中逻辑门的逻辑及连接顺序，确定该待测集成电路中每一个逻辑门输出特定逻辑值的输出概率；

路径寻找模块，用于根据该输出概率，得到该待测集成电路每一条传播路径的逻辑值跳变传播概率，并寻找低于预设值的该逻辑值跳变传播概率对应的传播路径作为待选路径；

木马检测模块，用于生成测试向量，并判断该测试向量是否能将一个逻辑值跳变从该待选路径的输入端向输出端传输，若是，则将该待选路径作为难测路径，用于检测硬件木马，否则，则删除该待选路径；

路径寻找模块中寻找该待选路径的过程具体包括：以该待测集成电路的输出逻辑门为起点，向输入端方向寻找，选择该逻辑值跳变传播概率最小的输入连线作为跳边沿传输端，并以输出该输入连线的逻辑门作为新的起点继续向输入端方向寻找，直到到达该待测集成电路的输入端，一条待选路径寻找结束。

6.如权利要求5所述的基于难测路径选择的集成电路检测系统，其特征在于，该特定逻辑值为0或1。