[发明专利]显微镜在审
申请号: | 201811212148.6 | 申请日: | 2018-10-17 |
公开(公告)号: | CN109696742A | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | F.默茨;A.赫格尔;C.贝德;A.米勒;D.科尔斯特;P.赖默尔 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司医疗技术股份公司 |
主分类号: | G02B21/06 | 分类号: | G02B21/06;G02B21/22;G02B21/00;A61B3/13 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军;王蕊瑞 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学器件组 分束器 主物镜 照明光路 探测光路 波前测量装置 显微镜 成像光学系统 反射元件 观察光路 透射元件 照明射线 照明装置 无焦 指向 | ||
一种显微镜,具有:具有主物镜的观察光路、具有第一探测光路和第一照明光路的波前测量装置、第一和第二光学器件组、安排在第一与第二光学器件组之间的分束器和具有第二照明光路的照明装置,其中第一探测光路包含主物镜、第一光学器件组、第一与第二光学器件组之间的作为反射元件的分束器和第二光学器件组,并且主物镜与第一和第二光学器件组共同构成第一探测光路的无焦成像光学系统,其中第一照明光路包含该分束器、第一光学器件组、主物镜,而不包含第二光学器件组,并且用于波前测量装置的照明射线经由所述分束器指向第一光学器件组,并且其中第二照明光路包含第一与第二光学器件组之间的作为透射元件的分束器、第一光学器件组和主物镜。
相关申请的交叉引用
本申请要求保护于2017年10月20日提交的德国专利申请号10 2017 124 547.2的优先权,其中该申请的全部内容通过引用并入本文。
技术领域
本发明涉及一种带有具有主物镜的观察光路的显微镜,其中该显微镜尤其形成为手术显微镜。
背景技术
越来越需要这种显微镜以及尤其这种手术显微镜,以用于在手术中进行各种诊断检查(例如成像方法或屈光测量)。然而例如在手术期间,为此所需的单独的设备会显著影响工作环境和工作流程。
发明内容
基于这一点,因此本发明的目的是提供一种带有具有主物镜的观察光路的显微镜,该显微镜提供至少一种附加的测量功能并且同时形成为紧凑型的。
本发明在权利要求1中被限定。有利的改进方案在从属权利要求中给出。
根据本发明的显微镜可以包括:具有主物镜的观察光路、具有第一探测光路以及第一照明光路的波前测量装置、第一和第二光学器件组、安排在第一与第二光学器件组之间的第一分束器(下文也称为波前分束器)、以及具有第二照明光路的照明装置。第一探测光路可以包含主物镜、第一光学器件组、作为反射元件的第一分束器、以及第二光学器件组,其中主物镜与第一和第二光学器件组共同构成第一探测光路的无焦成像光学系统。第一照明光路可以包含第一分束器、第一光学器件组、以及主物镜。尤其,第一照明光路可以不包含第二光学器件组,从而使得波前测量装置的照明射线可以经由第一分束器指向第一光学器件组。因此用于波前测量的照明射线不穿过第二光学器件组,从而以有利的方式要穿过的光学边界面较少,在这些光学边界面处可能出现可能对波前测量产生不利影响的反射。因此波前测量装置的第一照明射线可以通过第一光学器件组和主物镜指向要使用显微镜检查的样品。
此外,第二照明光路可以包含作为透射元件的第一分束器、第一光学器件组、以及主物镜。
由于主物镜以及第一分束器是第一探测光路以及第一和第二照明光路的组成部分,因此对于第一探测光路和两条照明光路而言可以部分地使用同一光学元件,这实现了紧凑型的结构。
此外在第一探测光路中将第一分束器用作反射元件,与替代地可能的透射用途相比,这实现了更好的光学成像特性,因为在探测光路中在第一分束器的区域中恰好没有平行的射线走向。然而这对于第一分束器的反射用途而言不成问题。如果在第一探测光路中将第一分束器用作透射元件,则通过第一分束器的通道可能引起不期望的像差(Abbildungsfehler),这些像差难以校正或只能以高的光学耗费进行校正。
第一探测光路的无焦成像光学系统可以形成为开普勒望远镜,其中主物镜和第一光学器件组形成开普勒望远镜的物镜,而第二光学器件组形成开普勒望远镜的目镜。此外,开普勒望远镜的物镜和目镜可以形成为其焦点重合。
照明装置的射线(例如来自可见光谱)可以经由第一与第二光学器件组之间的第一分束器耦入,使得射线经由第一光学器件组和主物镜(并且不经过第二光学器件组)指向待检查的样品。照明装置可以尤其形成为同轴的照明装置。
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