[发明专利]测试电路及显示装置

说明书

本申请公开一种测试电路及显示装置，测试电路包括N个第一测试衬垫、第二测试衬垫、测试模块、开关电路和控制模块，测试模块用于输出多个测试信号至N个第一测试衬垫和N个第二测试衬垫；开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元；控制模块，用于控制N个第一开关单元单独导通或者控制N个第二开关单元单独导通以使多个所述数据信号输出至所述显示面板对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板点亮状态判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。本申请技术方案解决了在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题。

技术领域

本申请涉及液晶面板技术领域，特别涉及一种测试电路及显示装置。

背景技术

显示屏的工艺架构，以门极驱动设计来分，可以分为SOC(System on chip)和GOA(Gate driver on array)两种，GOA电路在面板设计上是一项重要技术，GOA电路是指直接制备在阵列基板上的扫描线驱动电路，GOA电路包括多级依次连接的移位寄存器，每个移位寄存器驱动一条扫描线，并为下一级移位寄存器提供开启信号，从而GOA电路整体上可实现使扫描线逐行开启的目的。GOA技术相比传统工艺，不仅节省了成本，同时由于可以省去栅极方向上的绑定工艺，对提升产能极为有利，并提高了显示面板的集成度。

对于大尺寸面板，一般采用双边GOA电路驱动，即在阵列基板两侧均设有GOA电路，一起驱动面板上的各行扫描线。当GOA电路的某个位置存在短接、断开等故障时，会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作，进而导致显示异常。在阵列基板生产过程中，当阵列基板上的功能模块存在缺陷时，显示过程中会出现各种与阵列基板有关的不良。例如，扫描线或数据线断线引起的显示不良，栅极驱动电路或源极驱动电路缺陷引起的显示不良，因此，阵列基板制成后需要对面板上的所有像素统一充电，即进行阵列综合检测(Array Test AT)，阵列综合检测可实现对信号线等导电线路进行检测，传统的阵列检测在待检测面板外设置多个测试衬垫，同时双边进行数据信号的写入，然后通过传感器感知面板上的像素强度，检测出像素的电学性不良，从而提高生产良率。

但是，因为检测信号是同时双端写入显示面板的，如果因为一边的数据信号写入有问题，可能无法得知是上端数据线出问题或是下端数据线有问题，因此可能出现误判。

申请内容

本申请的主要目的是提供一种测试电路，旨在解决在数据信号写入有问题时，无法得知是上端数据线异常还是下端数据线异常的问题。

为实现上述目的，本申请提出的一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板具有N个第一数据线及和N个第二数据线，所述测试电路包括：

N个第一测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第一数据线；

N个第二测试衬垫，设置为连接对应的N个所述第二数据线；

测试模块，用于输出测试显示面板的多个数据信号至N个所述第一测试衬垫和N个所述第二测试衬垫；

开关电路，包括N个第一开关单元和N个第二开关单元，N个所述第一开关单元一对一的设置于N个所述第一数据线上；N个所述第二开关单元一对一的设置于N个所述第二数据线上；

控制模块，用于控制N个所述第一开关单元单独导通或者控制N个所述第二开关单元单独导通，以使多个所述数据信号输出至显示面板对应的数据线上进行显示面板测试，并根据所述显示面板点亮状态判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。

可选地，所述测试电路还包括像素检测模块，所述像素检测模块设置在所述显示面板上，所述像素检测模块设置为检测N个所述第一开关单元单独导通或者N个所述第二开关单元单独导通时显示面板上的像素的电场强度或者像素亮度，并输出反馈信号至所述控制模块，以供所述控制模块判断N个所述第一数据线或者N个所述第二数据线是否正常工作。