[发明专利]一种慢盘检测方法及系统

说明书

本发明实施例公开了一种慢盘检测方法及系统，用于提高慢盘检测的准确率，降低慢盘检测的漏判率和误判率。本发明实施例方法包括：采集硬盘的IO性能指标，所述IO性能指标至少包括硬盘的随机输入输出IO响应时间及硬盘每个预设分区的输入输出IO响应时间；判断所述硬盘的IO性能指标是否异常：若是，则记录所述异常的持续时间和/或所述异常在预设时间内的持续次数；分别判断所述持续时间和/或所述持续次数是否大于对应的预设阈值；若是，则确定所述硬盘为慢盘。

技术领域

本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种慢盘的检测方法及系统。

背景技术

硬盘由于磁头退化或者其他机械、环境问题，会导致硬盘输入输出(IO，input/output)响应时间变长，成为慢盘。在存储系统中，用户数据可以存储至一系列硬盘中，若一个硬盘很慢，会导致整体的读写操作变慢，严重的情况下，会导致业务中断。因此，需要对存储系统中的各盘进行实时检测确定慢盘，以便及时对慢盘进行隔离或备份。

现有的慢盘检测方法只是将整个硬盘的IO响应时间与慢盘事件判断门限进行比较来确定慢盘事件，并在预设周期内某个硬盘的慢盘事件次数超过一定次数时将该硬盘确定为慢盘的方法来检测，其中，多用整个硬盘的IO响应时间的平均值来作为慢盘事件的判断门限来确定存储系统中的慢盘事件。

而现有技术中时常将正常的硬盘判断为慢盘，误判率较高。

发明内容

本发明实施例提供了一种慢盘检测方法及系统，用于采用随机检测和分区检测的方法，对硬盘中的慢盘现象进行检测，并在慢盘现象持续时间超出预设阈值时，才确定该硬盘为慢盘，提高了慢盘检测的准确率，降低了慢盘检测的漏判率及误判率。

本申请实施例第一方面提供了一种慢盘检测方法，包括：

采集硬盘的IO性能指标，所述IO性能指标至少包括硬盘的随机输入输出IO响应时间及硬盘每个预设分区的输入输出IO响应时间；

判断所述硬盘的IO性能指标是否异常：

若是，则记录所述异常的持续时间和/或所述异常在预设时间内的持续次数；

分别判断所述持续时间和/或所述持续次数是否大于对应的预设阈值；

若是，则确定所述硬盘为慢盘。

优选的，所述判断所述硬盘的IO性能指标是否异常，包括：

获取所述硬盘的随机IO响应时间；

判断所述随机IO响应时间是否大于第一时间阈值；

若否，则读取所述硬盘预设分区的可信IO信息表，所述可信IO信息表至少包括所述硬盘每个预设分区对应的可信IO响应时间；

采集所述硬盘预设分区的IO响应时间；

判断所述预设分区的IO响应时间与对应分区的可信IO响应时间的时间差是否大于第二时间阈值；

若是，则确定所述IO性能指标异常。

优选的，在所述读取所述硬盘预设分区的可信IO信息表之前，所述

方法还包括:

判断是否存在所述可信IO信息表；

若不存在，则统计所述硬盘每个预设分区的IO性能指标采集次数，及每次IO性能指标中的IO响应时间；

当所述采集次数大于第一阈值时，则按照第一预设算法从所述采集次数对应的多个IO响应时间中确定每个预设分区对应的可信IO响应时间，从而生成所述可信IO信息表。

优选的，所述方法还包括：

更新每个硬盘的可信IO信息表。