[发明专利]一种多路数字光模块误码率的测试装置和测试方法

说明书

本发明为一种多路数字光模块误码率的测试装置和测试方法，本装置CPU连接的FPGA接多个电光转换单元E/O和光电转换单元O/E，E/O和O/E连接待测数字光模块，CPU连接上位机接收参数设置并将测试结果返回上位机。测试方法为待测数字光模块连接在本装置的E/O和O/E，上位机根据对各光模块状况设置测试码型、误码率指标和测试速率，经CPU发送指令到FPGA，后者产生相应的电信号经E/O转换为光信号发送到待测试的数字光模块，经其传输后回传到O/E再转换为电信号送入FPGA分析计算得其误码率。CPU将实时测试结果送到上位机。本发明可同时测试多个数字光模块，且可选择多种测试参数，满足数字光模块误码率的测试需求。

技术领域

本发明涉及高速大容量数字光模块测试及制造技术领域，具体为一种多路数字光模块误码率的测试装置和测试方法。

背景技术

随着云计算、大数据、物联网、人工智能时代的到来，全球数据中心所产生的数据总流量正在以34％的年复合增长率飞速上升，谷歌、亚马逊等互联网巨头对核心速率100Gbit/s(单波25Gbit/s)甚至更高传输速率的400Gbit/s(单波100Gbit/s)数据中心的需求渐行渐近。其中对核心组件即高速大容量数字光模块的需求更是日益增长，目前基本达到百万量级/数据中心。高速大容量的数字光模块不仅是数据中心的核心组件，也是数字光纤通信，电信骨干网、各类光纤传输专网的核心模块。在如此巨大的需求下，如何又快又准确的完成对高速大容量数字光模块的测试是一项极其重要的工作。

在军用方面，未来的军事设备对于各项战术指标的精度要求更是越来越高。这将导致很多战术设备如雷达，战机，舰船等内部数据的传输及处理量将急速增加，这就需要通过大量的数字光模块来传输日益增大的数据量，显然在未来军事光通信中对于高速大容量数字光模块也将有广泛的需求。

高速大容量数字光模块的关键指标主要是发光功率、光灵敏度、光饱和度、误码率和功耗。光功率计配合少量其他仪器即可完成光功率、光灵敏度及光饱和度指标的测试。

但对于数字光模块组件的误码率指标测试，目前的测试装置和测试方法难以满足日益增长的测试要求。现有的仪器只能测试1或2路低速率且码型单一的光信号，对高速数字光模块进行测试时传输速率，测试数量、传输带宽等参数设置均有局限，无法满足目前数量急速上升的高速大容量数字光模块产品的测试需求。

发明内容

本发明的目的是设计一种多路数字光模块误码率的测试装置，中央处理器CPU连接的可编程门阵列FPGA有多个电光转换单元和光电转换单元，各电光转换单元和光电转换单元连接待测数字光模块，CPU连接上位机接收测试参数设置信息并将测试结果实时返回上位机。

本发明的另一目的是设计一种多路数字光模块误码率的测试装置的测试方法，待测数字光模块连接在本装置的电光转换单元和光电转换单元，上位机根据对各电光转换单元和光电转换单元所连接的待测数字光模块的应用状况设置相关的测试码型、误码率指标和测试速率，将其送入CPU，CPU解析后发送指令到FPGA，后者产生相应的电信号经电光转换单元转换为光信号发送到待测试的数字光模块，经其传输后回传到光电转换单元再转换为电信号送入FPGA分析计算得其误码率。CPU将实时测试结果送到上位机。本发明可同时测试多个数字光模块，且可选择多种测试参数，解决了当前需求量巨大的数字光模块误码率的测试问题。