[发明专利]分析装置、多重反射池和分析方法

权利要求书

1.一种分析装置，其向导入了试样的多重反射池照射光，检测从所述多重反射池射出的光，分析所述试样中所含的测定对象成分，所述分析装置的特征在于，

所述分析装置包括：

第一光照射部，使第一光射入所述多重反射池；以及

第二光照射部，使入射光路与所述第一光不同的第二光射入所述多重反射池，

所述多重反射池具有反射所述第一光和所述第二光的一对反射镜。

2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述多重反射池从所述一对反射镜的一方侧导入所述第一光和所述第二光，并且从所述一方侧导出所述第一光和所述第二光。

3.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，仅在所述一对反射镜的一方上形成有所述第一光的入口和出口以及所述第二光的入口和出口。

4.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，

所述第一光的入口和出口的形成位置位于与所述一对反射镜的所述第二光的反射位置不同的位置，

所述第二光的入口和出口的形成位置位于与所述一对反射镜的所述第一光的反射位置不同的位置。

5.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述多重反射池具备池主体，所述池主体收容所述一对反射镜，并且具有导入所述试样的导入口和导出所述试样的导出口，

所述池主体具有所述第一光和所述第二光射入和射出的一个光学窗部件。

6.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述第一光被所述一对反射镜多重反射后射出，

所述第二光被所述一对反射镜以少于所述第一光的反射次数的反射次数多重反射、或被所述一对反射镜之一单反射后射出。

7.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述第一光照射部和所述第二光照射部使所述第一光和所述第二光同时射入所述多重反射池。

8.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述分析装置还包括信息处理装置，所述信息处理装置根据通过检测从所述多重反射池射出的所述第一光得到的光强度信号分析低浓度的测定对象成分，根据通过检测从所述多重反射池射出的所述第二光得到的光强度信号分析高浓度的测定对象成分。

9.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述分析装置还包括信息处理装置，所述信息处理装置根据通过检测从所述多重反射池射出的所述第一光得到的光强度信号分析第一测定对象成分，根据通过检测从所述多重反射池射出的所述第二光得到的光强度信号分析第二测定对象成分。

10.一种多重反射池，其导入试样并且将光多重反射后射出，所述多重反射池的特征在于，

所述多重反射池具有反射入射光路彼此不同的第一光和第二光的一对反射镜，

所述一对反射镜通过反射所述第一光形成长光路长度，并且通过反射所述第二光形成短光路长度。

11.一种分析方法，其向导入了试样的多重反射池照射光，检测从所述多重反射池射出的光，分析所述试样中所含的测定对象成分，所述分析方法的特征在于，

通过使入射光路彼此不同的第一光和第二光射入所述多重反射池并被所述多重反射池内的一对反射镜反射，由所述第一光形成长光路长度，并且由所述第二光形成短光路长度。