[发明专利]一种开尔文探针的电位校正装置及使用方法有效

专利信息
申请号: 201811165382.8 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN109164037B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 钟显康;扈俊颖;张智;曾德智;施太和 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01N17/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 开尔文 探针 电位 校正 装置 使用方法
【说明书】:

发明涉及一种开尔文探针的电位校正装置及其使用方法。所述装置包括铜管、铜管中部铜隔板、注射器和饱和硫酸铜溶液。所述铜管的材质为纯铜,其直径范围为:2~5mm。所述铜隔板的材质为纯铜,隔板厚度范围为:0.5~3mm。所述隔板与铜管管壁的交界处有一小孔,隔板上下的溶液通过小孔连通,小孔直径范围为:0.3~0.6mm。所述饱和硫酸铜溶液为澄清的溶液。铜管与注射器连接后,注入饱和硫酸铜溶液,并在铜管的下端口形成球形的液面,在相对湿度高于90%的环境中,用探针朝上型开尔文探针测试此时的电位并将此电位校正为0.32V。本发明能够实现探针朝上型开尔文探针的电位校正,具有操作方便、电位准确、校正速度快等优点,适合在腐蚀检测和腐蚀监测中推广应用。

技术领域

本发明涉及表面工程领域,具体涉及一种开尔文探针的电位校正装置及使用方法。

背景技术

开尔文探针(Kelvin probe)能够用于金属表面的电位测量,是一种快速、灵敏的无损监测技术,已经在腐蚀检测和腐蚀监测等方面得到了广泛应用。常用的开尔文探针可分为两种类型,即探针朝下型开尔文探针和探针朝上型开尔文探针。对电位进行校正是使用开尔文探针前的必需步骤,也是保障测量数据准确的基本前提。目前,探针朝下型开尔文探针的校正通常采用铜/硫酸铜电极法,具体操作步骤为:(1)将一定尺寸的铜杯置于相对湿度高于90%的环境中,向铜杯中加入饱和硫酸铜溶液,使液面呈球状;(2)使探针逼近球形液面,按照开尔文探针测量的基本步骤测量此时的电位,并将此电位校正为0.32V(相对于标准氢电极,SHE),即铜/饱和硫酸铜电极的电位。这种校方法已经成为探针朝下型开尔文探针电位校正的经典方法,具有准确、快速、操作简单等优点。

然而,这种方法并不适用于探针朝上型开尔文探针的电位校正。主要原因是:探针朝上时,铜杯的开口必须朝下,由于重力作用,无法将饱和硫酸铜溶液置于铜杯中,因此无法进行电位校正。目前,探针朝上型开尔文探针的电位校正采用的是固体银/氯化银电极法。但是这种方法的缺点十分明显:固体银/氯化银电极的电位可能受到湿度、温度以及环境中的二氧化碳等污染物的影响而发生改变,导致电位不准确,甚至发生严重错误。另外,固体银/氯化银电极的制备非常耗时,其制备过程复杂。这些缺点严重限制了探针朝上型开尔文探针的广泛应用。因此,发明一种适用于探针朝上型开尔文探针电位校正的简易装置和方法,对扩展开尔文探针的应用具有重要价值。

针对探针朝上型开尔文探针的电位校正问题,本发明设计出了一种装置,并总结了此装置的使用方法。这种装置及其使用方法,能够实现探针朝上型开尔文探针的电位的快速、准确校正,对拓展开尔文探针的应用具有重要意义。

发明内容

本发明的目的在于克服探针朝上型开尔文探针的现有电位校正方法的不足,提供一种开尔文探针的电位校正装置及其使用方法。本装置及其使用方法可用于探针朝上型开尔文探针的电位校正。

为实现上述发明目的,本发明采用如下技术方案:

一种开尔文探针的电位校正装置,包括铜管、铜隔板、注射器、饱和硫酸铜溶液。

所述铜管用作容器,其中装入饱和硫酸铜溶液,铜管下端口会形成球形的液面,用于开尔文探针的电位校正;所述铜隔板是电容极板,是铜/硫酸铜电极中的必需材料。铜隔板与开尔文探针尖端的横截面平行,形成一个电容,用于电位测量;所述铜隔板的边缘有一个小孔,是隔板上下的溶液通道,保溶液能够注入至隔板以下;所述注射器用于向铜管中加注饱和硫酸铜溶液,同时用于平衡铜管内溶液的重力,使铜管下端口的硫酸铜液面高度维持稳定;所述硫酸铜溶液是铜/硫酸铜电极的组成部分。铜/硫酸铜(饱和)电极在25℃时的标准电位是0.32V,铜/硫酸铜(饱和)电极作为开尔文探针的电位校正参考电极,具有操作简单、电位稳定等优点。

优选地,所述铜管材质为纯铜,其中铜含量的质量分数高于99%;铜管的直径范围为:2~5mm。

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