[发明专利]一种用于脑部软组织检测的移动平板CT成像系统在审
申请号: | 201811152223.4 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN109199425A | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 杨舰;张励 | 申请(专利权)人: | 天津金曦医疗设备有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 天津市尚文知识产权代理有限公司 12222 | 代理人: | 李冉 |
地址: | 300384 天津市西青区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 软组织 移动平板 探测器 脑部 数据采集模块 平板探测器 断层摄影图像 投影数据重建 图像重建模块 电信号转换 探测器连接 探测器输出 有效地实现 成像系统 检测图像 控制模块 投影数据 图像伪影 温度信息 硬件结构 有效检测 检测 转换 转化 优化 保证 | ||
本发明公开了一种用于脑部软组织检测的移动平板CT成像系统,包括X射线源、平板探测器,平板探测器用于接收X射线信号,并将X射线信号转换为相应的电信号;数据采集模块,与探测器连接,用于将探测器输出的电信号转换为投影数据并将探测器自身温度信息转化为探测器温度值;控制模块,用于将探测器温度值控制在目标温度范围内,并启动X射线源工作;图像重建模块,与数据采集模块连接,用于根据投影数据重建断层摄影图像。本发明的移动平板CT成像系统通过对成像系统软、硬件结构的优化,有效减弱图像伪影,保证检测图像质量,从而有效地实现对脑部软组织的有效检测。
技术领域
本发明涉及医疗领域,尤其是一种用于脑部软组织检测的移动平板CT成像系统。
背景技术
移动平板CT是适用于患者头部和四肢的X射线计算机断层扫描装置。大型医院的因为患者人数较多,脑外伤急性期,优先选择CT平扫以了解结构损伤和颅内出血,可清晰地看到脑中鲜血的轮廓,包括硬脑膜外的、硬模下的和脑实质的损伤。现有的CT系统使医护现场的脑外伤成像成为可能,但大部分现有系统只适合进行骨成像。移动平板CT在用于软组织、脑、血液等成像时对比度很低;投影数据的采集不能满足采样需求,使得投影数据本质上是欠采样的,会导致图像的边缘附件出现混叠条纹。混叠伪影会影响对于视野的精细结构的诊断。散射的存在使CT值被低估,降低了软组织对比度,同时使得图像的均匀性较差,容易导致误诊。
由于平板CT采用大面积平板探测器,其散射效应是二维的,受到的散射影响比临床CT大得多。散射的存在使CT值被低估,其最大的坏处是降低了软组织对比度,同时使得图像的均匀性较差,容易导致误诊。因此,有效减弱平板CT成像过程中的伪影是需要解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是针对工作过程中现有技术中存在的缺陷,而提供一种用于脑部软组织检测的移动平板CT成像系统。本发明的移动平板CT成像系统通过对成像系统软、硬件结构的优化,有效减弱图像伪影,保证检测图像质量。
本发明的技术方案为:一种用于脑部软组织检测的移动平板CT成像系统,包括X射线源、平板探测器、机架,其特征在于,所述机架包括基座、旋转支架和转盘,所述旋转支架安装在所述基座的上部,所述转盘安装在所述旋转支架的中心位置;所述转盘的上部安装设置有所述X射线源,所述转盘的底部设置有所述平板探测器,所述转盘在所述旋转支架上360°慢速旋转,带动安装在所述转盘上的X射线源和平板探测器围绕患者的病灶区域进行旋转;
所述平板探测器,用于接收X射线信号,并将所述X射线信号转换为相应的电信号以及感应获取探测器自身温度信息;数据采集模块,与所述探测器连接,用于将所述探测器输出的电信号转换为投影数据并将探测器自身温度信息转化为探测器温度值;控制模块,用于将探测器温度值控制在目标温度范围内,并启动X射线源工作;图像重建模块,与所述数据采集模块连接,用于根据所述投影数据重建断层摄影图像。数据采集、重建计算机以及后处理为同一计算机,布置在转盘上。会有一套屏幕、鼠标、键盘,安装在一个可移动的小计算机桌上,该桌子可方便地收入整机中方便移动。数据采集、重建计算机的视频信号通过滑环千兆网络输出到屏幕,鼠标、键盘与计算机采用无线通讯。
更进一步的,所述平板探测器为动态平板型的X射线平板探测器,所述平板探测器通过平板探测器基座安装在所述转盘的底部,所述平板探测器基座的四周和所述平板探测器基座的底部设置有调整所述平板探测器位置的调节装置,所述平板探测器的上面设置有防散栅,所述平板探测器的后面设置有温度检测系统、风冷散热系统、冗余射线屏蔽层;所述温度检测系统内包括置于探测器支架后表面的若干个加热单元和置于平板探测器支架上的温度传感器,所述温度传感器用于获取空气温度。
更进一步的,当探测器的温度低于目标温度范围的下限值时,则所述控制模块控制所述加热单元对所述探测器升温;当探测器的温度高于目标温度范围的上限值时,则所述控制模块控制所述风冷散热系统对所述探测器降温。
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