[发明专利]光轴偏差校准方法及相关装置有效

专利信息
申请号: 201811070620.7 申请日: 2018-09-13
公开(公告)号: CN110895372B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 曾信雁 申请(专利权)人: 浙江宇视科技有限公司
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 邓超
地址: 310000 浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光轴 偏差 校准 方法 相关 装置
【说明书】:

发明实施例提供了一种光轴偏差校准方法及相关装置。其中。光轴偏差校准方法包括:获取采集的原始图像数据的像素行中排列于预定名次之前的目标行及原始图像数据的像素列中排列于预定名次之前的目标列;根据目标行及目标列,确定第一有效成像中心点及第一有效半径;根据第一有效半径、预设的默认半径、第一有效成像中心点及预设的默认中心,获得第一偏差比较结果;当第一偏差比较结果满足预设要求,将第一有效成像中心点作为校正后的成像圆心及将第一有效半径作为校正后的成像半径,以获得偏差校准值。改善各个部件之间配合不精准造成的光轴偏差,无需全部通过调整更换硬件改善光轴偏差,提高产品的生成良率,节约物料成本。

技术领域

本发明涉及图像采集领域,具体而言,涉及一种光轴偏差校准方法及相关装置。

背景技术

图像采集装置的镜头基本上均由镜头、镜头座、Sensor板组成。通常镜头的光学成像圆小于Sensor感光面积,使得原始图像存在暗区,因此,需要将以Sensor中心为圆心,成像圆半径为半径截取有效成像图像数据呈现给客户。

然而,由于三者之间的定位公差及自身的尺寸公差,镜头与Sensor的中心往往会存在一定的偏移,即光轴偏移问题。若出现光轴偏移的情况,则截取的图像会有黑边出现。且光轴偏移太大会导致图像采集装置存在图像暗角等问题。同时,即使是统一流水线生产的各个部件依然可能存在配合精度不足,存在不同程度的光轴偏移问题,使生产良率不高。

相关技术中,针对光轴偏移的问题,主要通过对镜头、镜头座、Sensor板进行调整,但这种方式物料成本较高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光轴偏差校准方法及相关装置,用以改善上述问题。

为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:

第一方面,本发明实施例提供了一种光轴偏差校准方法,应用于图像采集设备,所述光轴偏差校准方法包括:获取采集的原始图像数据的像素行中按照对应的有效像素点的数量由大到小的顺序排列于预定名次之前的目标行及所述原始图像数据的像素列中按照对应的所述有效像素点的数量由大到小的顺序排列于所述预定名次之前的目标列;根据所述目标行及目标列,确定第一有效成像中心点及第一有效半径;根据所述第一有效半径、预设的默认半径、第一有效成像中心点及预设的默认中心,获得第一偏差比较结果;当所述第一偏差比较结果满足预设要求,将所述第一有效成像中心点作为校正后的成像圆心及将所述第一有效半径作为校正后的成像半径,以获得偏差校准值。

第二方面,本发明实施例提供了一种光轴偏差校准装置,应用于图像采集设备,所述光轴偏差校准装置包括:获取模块,用于获取采集的原始图像数据的像素行中按照对应的有效像素点的数量由大到小的顺序排列于预定名次之前的目标行及所述原始图像数据的像素列中按照对应的所述有效像素点的数量由大到小的顺序排列于所述预定名次之前的目标列;检测模块,用于根据所述目标行及目标列,确定第一有效成像中心点及第一有效半径;比较模块,用于根据所述第一有效半径、预设的默认半径、第一有效成像中心点及预设的默认中心,获得第一偏差比较结果;校正模块,用于当所述第一偏差比较结果满足预设要求,将所述第一有效成像中心点作为校正后的成像圆心及将所述第一有效半径作为校正后的成像半径,以获得偏差校准值。

第三方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,该些计算机指令被处理器执行时实现上述光轴偏差校准方法的步骤。

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