[发明专利]一种铁氧体片磁导率的无损全检测方法

权利要求书

1.一种铁氧体片磁导率的无损全检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)测试同样厚度同样组成的铁氧体磁片的电感值；

(2)根据步骤(1)所述电感值设定电感值变化的步长范围，在步骤(1)所述铁氧体磁片中选取样品，测试所述样品的磁导率；

(3)根据步骤(1)得到的电感值和步骤(2)得到的磁导率，建立磁导率与电感值的一一对应关系；

(4)对与步骤(1)所述铁氧体磁片的厚度相同组成也相同的待测铁氧体磁片进行电感值测试，根据电感值测试结果与步骤(3)所述磁导率与电感值的一一对应关系，获取所述待测铁氧体磁片的磁导率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述铁氧体磁片包括镍锌铁氧体磁片、锰锌铁氧体磁片或镍铜锌铁氧体磁片中的任意一种。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述铁氧体磁片的厚度为10μm-600μm。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，用电感测试仪测试电感值。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，测试电感值的设定频率为10KHz-13.56MHz；

优选地，步骤(1)中，测试电感值的设定频率为128KHz、6.78MHz或13.56MHz。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，所述电感值变化的步长范围＜0.1；

优选地，步骤(2)中，选取样品的数量满足使每个电感值步长范围的样品数≥100片。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，用磁导率测试仪测试样品的磁导率；

优选地，步骤(2)中，测试样品磁导率的设定频率为10KHz-13.56MHz；

优选地，步骤(2)中，测试样品磁导率的设定频率为128KHz、6.78MHz或13.56MHz；

优选地，步骤(2)中，测试样品磁导率的设定频率与步骤(1)中测试电感值的设定频率相同。

8.根据权利要求1-7中任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，先将样品贴膜，然后冲压成环，再测试磁导率。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述贴膜中使用的膜为聚对苯二甲酸乙二醇酯膜；

优选地，所述冲压成环的环外径为15mm-20mm，优选为19.9mm；

优选地，所述冲压成环的环内径为3mm-15mm，优选为8.8mm。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)用电感仪测试同样厚度同样组成的铁氧体磁片的电感值，测试电感的设定频率为128KHz、6.78MHz或13.56MHz；

(2)根据步骤(1)所述电感值设定电感值变化的步长范围，在步骤(1)所述铁氧体磁片中选取样品，在样品上贴聚对苯二甲酸乙二醇酯膜，然后冲压成外径为20mm，内径为10mm的环，用磁导率测试仪测试样品的磁导率，测试磁导率的设定频率与步骤(1)中测试电感值的设定频率相同；

其中，所述电感值变化的步长范围＜0.1，选取样品的数量满足使每个电感值步长范围的样品数≥100片；

(3)根据步骤(1)得到的电感值和步骤(2)得到的样品磁导率，建立磁导率与电感值的一一对应关系；

(4)对与步骤(1)所述样品的厚度相同组成也相同的待测铁氧体磁片进行电感值测试，根据电感值测试结果与步骤(3)所述磁导率与电感值的一一对应关系，获取所述待测铁氧体磁片的磁导率。