[发明专利]基于统计的局部特征计算方法、电子设备、存储介质

权利要求书

1.基于统计的局部特征计算方法，其特征在于包括以下步骤：

统计变换，依次以原始数据中的元素为中心，左右连续各取若干数据，生成每个元素对应的统计变换向量，通过每个元素对应的统计变换向量生成统计变换矩阵；

统计显化，通过统计方法依次对所述统计变换矩阵中的统计变换向量进行统计显化，得到总体统计显化结果；

统计重组，通过决策方法依次计算所述总体统计显化结果中的每一统计显化结果的局部特征，得到总体局部特征。

2.如权利要求1所述的基于统计的局部特征计算方法，其特征在于，所述统计变换中具体包括以下步骤：

将所述原始数据表示为原始数据向量，所述原始数据向量公式如下：

s＝[s₀,s₁,s₂,s₃,…s_n-1,s_n]

其中，S为原始数据向量，n为原始数据向量S中数据个数；

以原始数据向量中的第i个元素为中心，左右连续各取w个数据，生成第i个元素对应的统计变换向量，具体公式如下：

transform_i＝[s_i-w,…s_i-2,s_i-1,s_i,s_i+1,s_i+2,…,s_i+w]

通过每个元素对应的统计变换向量生成统计变换矩阵，具体公式如下：

其中，transform_i为第i个元素对应的统计变换向量，transform为统计变换矩阵。

3.如权利要求2所述的基于统计的局部特征计算方法，其特征在于，所述统计变换中，若原始数据向量中第i个元素任意一侧的数据总个数小于w，则选取与第i个元素最近的端点数据进行填充，生成第i个元素对应的统计变换向量。

4.如权利要求2所述的基于统计的局部特征计算方法，其特征在于，所述统计显化中具体包括以下步骤：

通过统计方法对所述统计变换矩阵中的第i个统计变换向量进行统计显化，具体公式如下：

statis_i＝stt(transform_i＝[s_i-w,…s_i-2,s_i-1,s_i,s_i+1,s_i+2,…,s_i+w])

通过每个统计变换向量对应的统计显化结果生成总体统计显化结果，具体公式如下：

其中，statis_i为第i个统计变换向量对应的统计显化结果，stt代表统计方法，statis为总体统计显化结果。

5.如权利要求4所述的基于统计的局部特征计算方法，其特征在于：所述统计重组中具体包括以下步骤：

通过决策方法计算所述总体统计显化结果中的第i个统计显化结果的局部特征，具体公式如下：

res_i＝des(statis₁)

通过每一个统计显化结果的局部特征生成总体局部特征，具体公式如下

其中，res_i为第i个统计显化结果的局部特征，des为决策方法，res为总体局部特征。

6.一种电子设备，其特征在于包括：处理器；

存储器；以及程序，其中所述程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由处理器执行，所述程序包括用于执行权利要求1-5任意一项所述的方法。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行如权利要求1-5任意一项所述的方法。