[发明专利]一种OTP的写入方法

说明书

本发明公开一种OTP的写入方法，包括以下步骤：根据所述待写入数据的比特数初始化有效位检测数据；其中，有效位检测数据中通过其检测位逐个比特位检测所述待写入数据中各比特数据是否为有效数据，同时控制有效位检测计数器记录有效数据的数量。每次检测完所述待写入数据的一个比特位后，判断所述有效位检测计数器的计数值是否等于预设比特数，是则将所述写寄存器中存储的数据写入OTP，否则控制所述有效位检测数据继续检测所述待写入数据的下一个比特位，并将所述待写入数据中已检测的数据段存储到所述写寄存器内，其中所述预设比特数是一次性写入OTP的有效数据的最大比特数。相对于现有技术，所述写入方法平均提高写入OTP的速度一倍。

技术领域

本发明涉及存储器读写控制的技术领域，尤其涉及一种OTP的写入方法。

背景技术

在集成电路设计中，为了保护芯片中的数据，越来越多的厂商在芯片内部提供了一种特殊的寄存器:OTP 寄存器(One Time Programmable ，一次性编程寄存器)OTP 寄存器是每位信息都是一次性写入，不可重写，掉电不丢失数据，可以反复读出数据。而多数OTP在编程时，通过高压信号将反熔丝结构进行击穿，改变OTP位元的状态，从而进行数据0或1的写入，数据一旦写入该位元将无法再编程，否则将导致位元的损坏。在进行OTP编程时，OTP位元将根据代码的数据值要求进行熔丝，以此存储数据。

如果一次写入过多的有效数据则会有写入失败的可能，所以通常OTP编程时对一次性写入的有效数据的最大比特数有所限制。目前通常的写入方式是简单地将待写入数据分割为多组数据片段，且保证每一组数据片段的比特数不超过一次性写入的有效数据的最大比特数，然后进行OTP写入操作。对于一种确定的OTP而言，基于待写入数据的简单的平均分段处理，不能让每次分段写入的有效数据的比特数等于一次性写入OTP的有效数据的最大比特数，导致分段写入操作次数增加，降低OTP的写入效率。

发明内容

本发明的技术方案提供一种OTP的写入方法，如下：

一种OTP的写入方法，该写入方法由OTP写控制器控制执行，该方法包括以下步骤：步骤1、判断是否存在待写入数据，是则进入步骤2，否则等待写入数据进入所述OTP写控制器；步骤2、根据所述待写入数据的比特数和有效数据，初始化有效位检测数据，同时复位移位计数器，并进入步骤3；其中待写入数据的全部比特数小于或等于有效位检测数据的全部比特数，有效位检测数据中的检测位只有一个比特位，所述检测位用来检测所述待写入数据中的有效数据； 步骤3、复位有效位检测计数器，同时将写寄存器清零，并进入步骤4；步骤4、判断所述有效位检测计数器的计数值是否等于预设比特数，是则进入步骤6，否则进入步骤5；其中，所述预设比特数是一次性写入OTP的有效数据的最大比特数；所述有效位检测计数器用来记录所述待写入数据的中已检测的所述有效数据的比特数；步骤5、控制所述有效位检测数据移位检测所述待写入数据，并将所述待写入数据中已检测的数据段存储到所述写寄存器内；同时使用移位计数器进行计数，当检测到有效数据时使用所述有效位检测计数器进行计数，然后返回步骤4继续进行判断，使得所述待写入数据分成多个数据段；其中，每个数据段中的有效数据的比特数都是所述一次性写入OTP的最大比特数；所述移位计数器用来记录所述有效位检测数据已处理的所述待写入数据的比特数；步骤6、将所述写寄存器中存储的数据写入OTP，并判断所述移位计数器的计数值是否为所述待写入数据的全部比特数，是则返回步骤1，否则返回步骤3；其中，写入OTP的数据是所述待写入数据经过有效数据检测而存储在所述写寄存器中的具有所述最大比特数的有效数据的数据段。

进一步地，所述步骤5中所述控制所述有效位检测数据移位检测的方法包括：将所述有效位检测数据与所述待写入数据进行逻辑位与运算；根据所述有效数据判断所述位与运算结果的全部比特位上是否都为无效数据，是则控制所述有效位检测数据中的所述检测位进行移位，同时控制所述移位计数器进行计数；否则先控制所述有效位检测计数器进行计数，再将所述有效位检测数据中的检测位进行移位，同时控制所述移位计数器进行计数。