[发明专利]一种尺寸测量方法、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种尺寸测量方法、设备及存储介质，所述方法包括检测是否有物体靠近尺寸测量设备；感应环境的亮度是否变暗，并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间；当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度；根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。本发明实现了通过智能设备检测物体的尺寸，给用户带来了便利，避免了用户因未携带卷尺等测量设备而产生困扰，而且提供了智能设备的智能化程度以及实用性。

技术领域

本发明涉及尺寸测量领域，特别涉及一种尺寸测量方法、设备及存储介质。

背景技术

生活中常常会遇到一些需要测量物体的尺寸的情况，为了方便使用者测量，出现了一些便携式测量工具。

目前常用的测量工具为卷尺，在测量物体时，将卷尺的零刻度与待测物体的起点对齐，然后在读取待测物体的终点相对应的卷尺上的刻度，从而获取物体的长度。

虽然卷尺的测量极为方便，但是人们通常不会随身携带卷尺，所以当遇到需要测量物体的尺寸的情况时，无法较好的测量物体的尺寸，经常给人们带来困扰。

因而现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种尺寸测量方法、设备及存储介质，可利用移动终端等智能设备来进行尺寸测量，给用户提供便利。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种尺寸测量方法，包括如下步骤：

检测是否有物体靠近尺寸测量设备；

感应环境的亮度是否变暗，并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间；

当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度；

根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。

所述的尺寸测量方法中，所述预设时间为5秒。

所述的尺寸测量方法中，所述感应环境亮度是否变暗，并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间的步骤包括：

感应环境的亮度，并在环境亮度变亮时输出高电平脉冲信号，在环境亮度变暗时输出低电平脉冲信号；

判断是否检测到低电平脉冲信号，并计算低电平脉冲信号的稳定输出时间；

判断低电平脉冲信号的稳定输出时间是否达到预设时间。

所述的尺寸测量方法中，所述当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度的步骤包括：

当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，发出角度测量指令；

根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点，同时还检测所述尺寸测量设备的起点和终点；

计算所述待测物体的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角，以及所述尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角。

所述的尺寸测量方法中，所述根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度的步骤包括：

计算出所述待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值，并记作α；

找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点，其中，所述映射点为以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆与尺寸测量设备的交点；