[发明专利]基于多层闪烁晶体探测器的系统均匀性校正方法及装置

权利要求书

1.一种基于多层闪烁晶体探测器的系统均匀性校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据晶体的排列信息和探测器系统的设计信息对多个系统均匀性的影响因素分别建立因素模型；在探测器系统的设计中，闪烁体部分由双层或更多层闪烁晶体排列构成；

利用所述探测器系统对用于均匀性矫正的实体模型进行数据采集，以得到实验数据；

对所述实验数据进行重组和处理，以分别获取均匀性校正中每项因素模型的相关参数，包括：对所述实验数据的能量和位置进行合理性判断，对于能量超出上下阈值和位置超出预定范围的事件进行剔除，以得到判断和剔除后的所述实验数据；对判断和剔除后的所述实验数据进行重组，以分别获取均匀性校正中每项因素模型的相关参数；所述每项因素模型的相关参数包括探测效率因子、探测器模块因子、空间几何因子、时间校正因子和结构校正因子，其中，所述探测效率因子的计算公式为：其中，i为所述探测器系统中每一根晶体，N_i为所有晶体参与的事件总数，为所述Ni的平均值；所述探测器模块因子的计算公式为：其中，u为探测器模块编号，k为所述探测器模块中的晶体层数，N_uk为所有探测器模块的所有层晶体的事件总数，为所述N_uk的平均值；所述空间几何因子的计算公式为：其中，N_v为v环上所有闪烁晶体参与事件总数，为所述N_v的平均值，v1和v2为参与同一事件的两个晶体所属环的编号组合，N_v1v2为所有事件的总计数，为所述N_v1v2的平均值；所述时间校正因子和所述结构校正因子的计算公式为：其中，N_ij为所有参与事件的闪烁晶体组合的计数，为所述N_ij的平均值；以及

整合所述每项因素模型的相关参数生成均匀性校正表，并根据所述均匀性校正表对基于探测器的系统进行均匀性校正，其中，所述整合所述每项因素模型的相关参数生成均匀性校正表，其中，整合公式为：η_ij＝ε_i·ε_j·B_uk·G_v1v2·TS_ij。

2.根据权利要求1所述的基于多层闪烁晶体探测器的系统均匀性校正方法，其特征在于，所述利用所述探测器系统对用于均匀性矫正的实体模型进行数据采集，以得到实验数据，进一步包括：

在所述均匀性校正实体模型中加入预设活度的放射性核素，以通过所述预设活度的放射性核素获取所述实验数据。