[发明专利]表面等离子增强荧光传感器及折射率变化测量方法

权利要求书

1.一种表面等离子增强荧光传感器的测量方法，其特征在于，其包括如下步骤：

(S01)制备WCSPR器件：将ZF3玻璃基底层通过体积比为1:4的乙醇-乙醚混合液超声清洗2小时，清洁其表面后放入电子束蒸镀仪器中抽真空使气压值降至10^-6毫托；以0.01nm每秒的蒸镀速率蒸镀金材料上金属层后以3500转/分的转速旋转涂覆EO-FTC，以质量分数为10％的聚碳酸酯作为折射率可调介质层，厚度为3微米；之后放入电子束蒸镀仪器中抽真空使气压值降至10^-6毫托，以0.01nm每秒的蒸镀速率蒸镀金材料上金属层；采用极板极化法，在135度温度、200伏的直流电压施加于折射率调节介质层条件下，极化30分钟使折射率调节介质层具有电光效应；以3500转/分的速度旋转涂覆Cytop材料作为缓冲层，厚度为200纳米；采用物理吸附法在Cytop表面固定氟化钇钠单纳米粒子层；

(S02)将步骤(S01)制备的WCSPR器件固定于ZF3玻璃为材料的棱镜上，两者之间以折射率为1.711@814nm的折射率匹配液填充；

(S03)样品池底部与准直器接触，用于收集氟化钇钠单纳米粒子层发射荧光，上述所有装置固定在转台上；

(S04)将步骤(S03)收集得到的荧光信号经荧光探测装置的单模光纤传递至准直器后，经滤光片和聚焦透镜聚焦后入射光电倍增管，采集的信号经前置放大器放大后由电脑采集；

(S05)在折射率调节介质层上施加不同幅度的直流电压信号，以波长为814纳米的横磁偏振光为入射光，以0.01度为步长转动转台并记录探头的反射光强度，计算WCSPR模式对应的入射角度后将转台转动至该角度，记录前置放大器上记录的SPEF信号，即完成荧光强度的测量。