[发明专利]一种分光光度多波长检测装置及其检测方法

说明书

本发明公开了一种分光光度多波长检测装置及检测方法。所述分光光度多波长检测装置包括：多波长校正模型构建模块，构建包含表面散射影响的多波长校正模型；波长选择模块，在待测目标物质的一个或多个吸收峰所在的波长范围内选择波长；吸收光谱测量模块，测量相对空气的吸收光谱；计算模块，根据所述多波长校正模型通过计算获取待测目标物质的浓度测量结果。本发明提供的分光光度多波长检测装置和检测方法可有效消除吸收池表面粗糙度差异对分光光度分析的影响，可以大幅降低吸收池的表面粗糙度要求。

技术领域

本发明涉及光谱分析技术领域，特别涉及一种分光光度多波长检测装置及其检测方法。

背景技术

分光光度法用于溶液中目标物定量分析时，为保证结果不受吸收池的影响，使用同一吸收池分别盛放试样与参比溶液或使用经过配对空白透过率相同的两个吸收池盛放试样与参比溶液。

对于某些阵列式多通道微型吸收池，例如离心式多通道微流控芯片，吸收池只能一次进样，试样与参比溶液只能分别盛放在两个不同的吸收池中。同时，此类阵列式芯片多个吸收池集成在芯片上，吸收池无法配对。这导致结构复杂的系统，特别是结构复杂的系统，制造难度与成本极高，且通道数越多，难度与成本越高。这严重制约了此类阵列式系统的应用与推广。

发明内容

本发明旨在克服现有技术存在的缺陷，本发明采用以下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种分光光度多波长检测装置。所述分光光度多波长检测装置包括：

多波长校正模型构建模块，所述多波长校正模型构建模块将吸收池的表面粗糙度的影响表示为吸光度形式，根据吸光度的加和性，与多种组分的吸收相结合，构建包含表面散射影响的多波长校正模型；

波长选择模块，所述波长选择模块在待测目标物质的一个或多个吸收峰所在的波长范围内选择波长；

吸收光谱测量模块，所述吸收光谱测量模块分别通过测量空吸收池，充满参比溶液的参比溶液吸收池，充满标准溶液的标准溶液吸收池，充满试样的吸收池获得在所述选定波长相对空气的吸收光谱；

计算模块，所述计算模块根据所述多波长校正模型，通过多元校正方法，计算获取待测目标物质的浓度测量结果。

在一些实施例中，所述波长选择模块根据选择待测目标物质的一个或多个吸收峰所在的波长范围，以固定间隔取波长点，计算选定波长点选择性，大于预定值，则选用这些波长点；小于预定值，则扩大波长范围，或减小波长间隔，重新选择波长点，直至获得满足要求的波长点以获得所述选定波长。

在一些实施例中，所述多波长校正模型的表达式为：

其中，1、1/λ²、A_E、A_R、A_T、A_S分别为常数向量、波长平方倒数向量、空吸收池吸收光谱、参比溶液吸收池吸收光谱、目标物质标准溶液吸收池吸收光谱、待测试样吸收池吸收光谱。

在一些实施例中，所述计算模块具体根据多波长校正模型，通过最小二乘回归计算模型中各向量系数，根据已知参数，计算获取试样中目标物质浓度。

在一些实施例中，所述吸光度表示为：

A＝a₀*1+a₁*1/λ²,

其中，a₀、a₁为系数、1为常数向量、1/λ²为波长平方倒数向量。

另一方面，本发明实施例还提供了一种分光光度多波长检测方法，所述分光光度多波长检测方法包括步骤：