[发明专利]一种电子元器件测试装置在审

专利信息
申请号: 201810865231.7 申请日: 2018-08-01
公开(公告)号: CN109188118A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 支源;吴磊;杨敏;赵东东;崔峰;贺军川;张雷;温鹏 申请(专利权)人: 北京群源电力科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/26;G01R27/02;G01R1/04
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立;厉洋洋
地址: 100176 北京市大兴区北京经济技术开*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试夹具 电子元器件 测试程序 工控机 电子元器件测试装置 测试装置 测试仪 高阻计 测试 测试领域 测试要求 高阻器件 性能测试 自动调用 自动识别 检测 预设 检验
【说明书】:

发明公开了一种电子元器件测试装置,涉及测试领域。该测试装置包括:测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪,测试夹具组包括至少两种测试夹具;工控机用于检测每种测试夹具是否连接有电子元器件,并判断连接有电子元器件的测试夹具的类型,根据类型在预设测试程序中选择对应的测试程序;测试仪用于根据选择的测试程序对连接在测试夹具上的电子元器件进行测试;高阻计用于检测高阻器件的阻值。本发明提供的测试装置,通过工控机自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类,能够自动调用对应的测试程序,对电子元器件进行测试,能够实现对电子元器件的多种性能测试,满足多种检验测试要求。

技术领域

本发明涉及测试领域,尤其涉及一种电子元器件测试装置。

背景技术

在电子设备的研发和制造过程中,电子元器件的好坏直接决定着最终产品的功能及可靠性。对电子设备可靠性有严格要求的领域,如军工、航空、航天领域等,会要求在电子设备生产制造前,对所使用的电子元器件执行全面检验和测试。

然而电子设备中使用的电子元器件种类繁多,单一用途的检验测试装置无法适应多种检验测试要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供一种电子元器件测试装置,能够满足多种检验测试要求。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:

一种电子元器件测试装置,包括:测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪,所述测试夹具组包括至少两种测试夹具,每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件,每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试;所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件,并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型,根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序;所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试;所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。

本发明的有益效果是:本发明提供的测试装置,通过工控机自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类,能够自动调用对应的测试程序,对电子元器件进行测试,能够实现对电子元器件的多种性能测试,满足多种检验测试要求。

同时,该测试装置通过工控机识别测试夹具类型,能够在电子元器件的多种测试间快速自动切换,能够提高检测效率,适应工厂的大规模生产需要,相比于现有的人工手检的检测方式,也能够提高测试的一致性和准确性。

本发明附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明实践了解到。

附图说明

图1为本发明一种电子元器件测试装置的实施例提供的结构示意图;

图2为本发明一种电子元器件测试装置的其他实施例提供的测试夹具组示意图;

图3为本发明一种电子元器件测试装置的其他实施例提供的外部结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实施例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。

由于现有的电子元器件的测试中,每种测试装置只能对应测试电子元器件的一种性能,例如,电阻计只能测量电子元器件的电阻,当需要测试多种电子元器件的各种性能时,就需要各种对应的测试装置,这就造成了单一用途的检验装置无法适应检验要求,而分别使用多种对应的测试装置,会使企业的成本上升,且使用不便,基于此,本发明提供了一种电子元器件测试装置。

如图1所示,为本发明一种电子元器件测试装置的实施例提供的结构示意图,该测试装置包括:测试夹具组1、工控机2、高阻计3和测试仪4,其中:

测试夹具组1包括至少两种测试夹具,每种测试夹具用于连接待测试的电子元器件,每种测试夹具对应不同电子元器件的测试。

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