[发明专利]像素电流检测电路、方法、显示装置有效
申请号: | 201810845464.0 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN109935182B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 冯雪欢 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;刘伟 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 电流 检测 电路 方法 显示装置 | ||
本发明提供一种像素电流检测电路、方法和显示装置,所述像素电流检测电路包括:像素电流转换单元,用于对像素电流进行转换,以得到第一像素电流和第二像素电流;第一像素电流与像素电流之间的差值在预定差值范围内,第二像素电流与像素电流之间的比值在预定比值范围内;以及,电流检测单元,与像素电流转换单元连接,用于将第一像素电流转换为第一检测电压,将第二像素电流转换为第二检测电压,并根据第一检测电压、第二检测电压中的至少一个,得到像素电流。本发明使得像素电流检测准确,从而能够更好的进行外部补偿。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种像素电流检测电路、方法和显示装置。
背景技术
在AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode,有源矩阵有机发光二极管)显示面板的设计中,由于器件的不稳定性,需要增加外部补偿电路,以补偿器件的阈值电压偏移及迁移率变化。在外部补偿电路中检测像素电流时需要使用差分运算放大器组成的积分电路。外部补偿技术是检测驱动晶体管的电特性,基于检测结果修正数据电压,并补偿驱动晶体管的电特性的差异。
在现有技术中,为了检测驱动晶体管的电特性,电流检测单元安装在源极驱动器内,通过电流检测单元直接检测发光元件发光时流经驱动晶体管的像素电流,并通过连接至外部补偿线的积分器累积指定时间量的像素电流并将像素电流变为检测电压,通过使用模拟-数字转换器(ADC,Analog-to-DigitalConverter)采样所述检测电压,以获得数字感测值。ADC是将模拟信号转换成数字信号的器件,ADC的输入电压范围是固定的,当像素电流过大时ADC检测不出(例如,当ADC能够读取的最大输入电压为5V时,当ADC的输入端接收大于5V的检测电压时,ADC输出的数字电压仍然对应于5V,也即ADC无法采样过大的检测电压),当像素电流过小时ADC检测的电压会不准确。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种像素电流检测电路、方法和显示装置,改善现有技术中像素电流检测不准确而导致的不能准确的进行外部补偿的问题。
为了达到上述目的,本发明提供了一种像素电流检测电路,应用于像素电路,用于检测所述像素电路中的像素电流,所述像素电流检测电路包括:
像素电流转换单元,用于对所述像素电流进行转换,以得到第一像素电流和第二像素电流;所述第一像素电流与所述像素电流之间的差值在预定差值范围内,所述第二像素电流与所述像素电流之间的比值在预定比值范围内;以及,
电流检测单元,与所述像素电流转换单元连接,用于将所述第一像素电流转换为第一检测电压,将所述第二像素电流转换为第二检测电压,并根据所述第一检测电压、所述第二检测电压中的至少一个,得到所述像素电流。
实施时,所述第一像素电流包括第一转换电流和第二转换电流;所述第一检测电压包括第一转换检测电压和第二转换检测电压;所述第一转换电流小于所述像素电流,所述第二转换电流大于所述像素电流;
所述电流检测单元具体用于将所述第一转换电流转换为第一转换检测电压,将所述第二转换电流转换为第二转换检测电压。
实施时,所述电流检测单元包括第一转换子单元、第二转换子单元、第三转换子单元和检测子单元;
所述第一转换子单元用于接收所述第一转换电流,并将所述第一转换电流转换为相应的第一转换检测电压;
所述第二转换子单元用于接收所述第二像素电流,并将所述第二像素电流转换为相应的第二检测电压;
所述第三转换子单元用于接收所述第二转换电流,并将所述第二转换像素电流转换为相应的第二转换检测电压;
所述检测子单元与所述第一转换子单元、所述第二转换子单元和所述第三转换子单元连接,用于根据所述第一转换检测电压、所述第二检测电压、第二转换检测电压中的至少一个,得到所述像素电流。
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