[发明专利]一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法

权利要求书

1.一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1、获取辐射天线的近场辐射场强分布数据和被测对象的三维仿真数据；

S2、根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域；根据被测对象的三维仿真数据建立三维仿真模型；

S3、在三维仿真模型中根据单次辐射的有效区域获取辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息；

S4、根据辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息自动调整辐射天线的实际位置。

2.根据权利要求1所述的辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：所述步骤S1中获取辐射天线的近场辐射场强分布数据的具体方法为：

通过三维电磁仿真软件建立辐射天线三维模型，并通过仿真软件获取辐射天线1m-3m处的近场辐射场强数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据；

或者通过近场探头测试距离辐射天线1m-3m处的近场场强分布数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据。

3.根据权利要求2所述的辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：所述步骤S1中获取被测对象的三维仿真数据的具体方法为：

通过摄像扫描方式或激光扫描方式获取被测对象的三维参数，根据该三维参数得到三维仿真数据。

4.根据权利要求3所述的辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：所述步骤S2中根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域的具体方法为：

若近场辐射场强分布数据中的场强方位为圆形，则取圆形中最大的矩形作为单次辐射的有效区域，其中单次辐射的有效区域的面积S为

其中φ(f，L)为圆形的直径；f为辐射频率；L为辐射距离；

若近场辐射场强分布数据中的场强方位为椭圆形，则取椭圆形中最大的矩形作为单次辐射的有效区域，其中单次辐射的有效区域的面积S为

S＝2A(f，L)*B(f，L)

其中A(f，L)为椭圆的长半轴长度；B(f，L)为椭圆的短半轴长度；f为辐射频率；L为辐射距离。

5.根据权利要求4所述的辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：所述步骤S3的具体方法包括以下步骤：

S3-1、获取被测对象的前、后、左、右、上和下共六面的投影，得到每个投影的形状和面积；

S3-2、采用单次辐射的有效区域对每个投影面进行分段覆盖辐射，根据每个投影的形状和面积得到每次覆盖辐射时单次辐射的有效区域的中心点的坐标；其中分段覆盖的顺序是从左到右、从上到下逐次覆盖；

S3-3、将单次辐射的有效区域的中心点作为辐射天线的坐标点，进而得到辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息。

6.根据权利要求5所述的辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：所述步骤S4的具体方法为：

根据分段覆盖顺序将辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息规划为路径，将规划的路径输入加载辐射天线的自动引导装置，通过自动引导装置自动实现辐射天线的位置调整，即完成辐射位置的自动调整。