[发明专利]一种辐射敏感度测试方法

权利要求书

1.一种辐射敏感度测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1、获取被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据；

S2、根据被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据得到被测对象在不同测试距离、不同位置上的不同频率电磁波入射场强分布数据；

S3、根据电磁波入射场强分布数据获取辐射天线3dB场强覆盖范围数据、场强均匀性数据，以及进行充分覆盖测试并得到测试位置数据，完成对辐射敏感度的测试。

2.根据权利要求1所述的辐射敏感度测试方法，其特征在于：所述步骤S1中获取被测对象的三维仿真模型数据的具体方法为：

通过摄像扫描方式或激光扫描方式获取被测对象的三维参数，根据该三维参数得到三维仿真模型数据。

3.根据权利要求1所述的辐射敏感度测试方法，其特征在于：所述步骤S1中获取辐射天线的近场辐射场强分布数据的具体方法包括如下：

通过三维电磁仿真软件建立辐射天线三维模型，并通过仿真软件获取辐射天线1m-3m处的近场辐射场强数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据；

或者通过近场探头测试距离辐射天线1m-3m处的近场场强分布数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据。

4.根据权利要求1所述的辐射敏感度测试方法，其特征在于：所述步骤S3中根据电磁波入射场强分布数据进行充分覆盖测试并得到测试位置数据的具体方法为：

获取被测对象待测试部位的投影面积S，将电磁波入射场强形状中的矩形作为有效覆盖形状，即有效覆盖区域，获得其有效覆盖面积B(L,f)；其中L为待测部位与辐射天线的距离；f为电磁波的频率；

将有效覆盖区域从左到右、从上到下逐次移动，根据公式

N(L,f)＝S/B(L,f)

得到待测部位在距离为L、频率为f的条件下所需测试次数N(L,f)，并记录在三维坐标系中每次测试的位置O_N(x,y,z)，即得到测试位置数据。

5.根据权利要求1所述的辐射敏感度测试方法，其特征在于：所述步骤S3中根据电磁波入射场强分布数据获取辐射天线3dB场强覆盖范围数据的具体方法包括以下步骤：

S3-1、预设距离辐射天线几何中心L处的场强为参考场强，其位置为O(0,0,L)；

S3-2、通过仿真或近场测试的方法在其他辐射位置测试得到场强为参考场强一半的位置，将其作为3dB场强覆盖区域边界上的点；

S3-3、获取3dB场强覆盖区域边界上距离点O(0,0,L)最近的点与点O(0,0,L)的距离r，将以点O(0,0,L)为圆心、r为半径形成的圆作为辐射天线3dB场强覆盖范围。

6.根据权利要求5所述的辐射敏感度测试方法，其特征在于：所述步骤S3中根据电磁波入射场强分布数据获取场强均匀性数据的具体方法为：

在测试距离为L的条件下，若

E₀/E₁≤2

则说明该次测试辐射覆盖区域的场强均匀性满足3dB均匀性要求；否则该次测试辐射覆盖区域的场强均匀性不满足3dB均匀性要求；

其中E₀为需要测试的场强强度；E₁为被测对象辐射覆盖区域的最小场强强度。