[发明专利]MALDI-TOF-MS解吸电离控制方法、装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 201810744140.8 | 申请日: | 2018-07-09 |
公开(公告)号: | CN109142500B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 李磊;喻佳俊;曾真;陈颖;代新 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄晓庆 |
地址: | 510665 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | maldi tof ms 解吸 电离 控制 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种MALDI-TOF-MS解吸电离控制方法,所述方法包括:
接收外部输入的目标靶点信息,根据所述目标靶点信息从MALDI-TOF-MS靶板成像中获取所述目标靶点的图像;
对所述目标靶点的图像进行处理,得到结晶区域中各结晶位点的质谱图;
查找所述结晶位点中有效结晶位点,所述有效结晶位点的质谱图的样本特征峰信噪比为预设值;
对所述有效结晶位点进行路径规划,生成目标路径,输出所述目标路径至外部控制设备,由所述外部控制设备按照所述目标路径进行解吸电离。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述目标靶点的图像进行处理,得到结晶区域中各结晶位点的质谱图,包括:
对所述目标靶点的图像进行处理,得到结晶区域的空间位置坐标域;
获取所述结晶区域的空间坐标域中各结晶位点的质谱图。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述目标靶点的图像进行处理,得到结晶区域的空间位置坐标域,包括:
提取所述目标靶点的图像的特征,并对所述特征进行识别,得到结晶位点;
获取所述结晶位点的空间位置,根据所述结晶位点的空间位置得到所述目标靶点的图像对应的结晶区域;
根据所述目标靶点的图像对应的结晶区域,得到所述结晶区域的空间位置坐标域。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收外部输入的目标靶点信息,根据所述目标靶点信息从MALDI-TOF-MS靶板成像中获取所述目标靶点的图像之前还包括:
获取MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系,所述空间位置坐标系包括各靶点的空间位置坐标;
所述接收外部输入的目标靶点信息,根据所述目标靶点信息从MALDI-TOF-MS靶板成像中获取所述目标靶点的图像,包括:
接收外部输入的目标靶点信息,将所述目标靶点信息与所述各靶点的空间位置坐标进行匹配,得到所述目标靶点信息在所述空间位置坐标系中对应的目标靶点;
根据所述目标靶点从MALDI-TOF-MS靶板成像中获取所述目标靶点的图像。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系,包括:
获取MALDI-TOF-MS靶板的成像;
获取所述MALDI-TOF-MS靶板上预设靶点的空间位置坐标,将所述预设靶点的空间位置坐标作为所述MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系的参考靶点坐标;
根据所述MALDI-TOF-MS靶板的成像以及所述参考靶点坐标,得到所述MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述MALDI-TOF-MS靶板的成像以及所述参考靶点坐标,得到所述MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系,包括:
根据所述MALDI-TOF-MS靶板的成像对所述参考靶点坐标进行校准;
根据校准后的参考靶点坐标,得到所述MALDI-TOF-MS靶板上各靶点的空间位置坐标,基于所述MALDI-TOF-MS靶板上各靶点的空间位置坐标建立所述MALDI-TOF-MS靶板的空间位置坐标系。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述有效结晶位点进行路径规划,生成目标路径,包括:
获取所述有效结晶位点中各边界结晶位点在所述空间位置坐标系中的空间位置坐标;
联结所述各边界结晶位点的空间位置坐标,形成目标区域,获取所述目标区域中有效结晶位点的离散图;
基于预设模型对所述离散图进行路径规划,生成目标路径。
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