[发明专利]纳米颗粒追踪装置

权利要求书

1.一种纳米颗粒追踪装置，其特征在于，包括：激光器、光学整形单元、图像采集单元以及图像处理单元；

激光器，用于发射第一激光束；

光学整形单元，用于将第一激光束整形成光强均匀分布的激光束，光学整形单元包括：扫描单元和会聚单元；

扫描单元，用于调整所述第一激光束的方向得到第二激光束，将所述第二激光束反射到所述会聚单元，所述第二激光束包括多条在空间上连续分布的、被反射的第一激光束；

会聚单元，用于将所述第二激光束会聚为第三激光束，并出射到样品池，其中，所述第三激光束中的每条激光束互相平行；

其中，在所述扫描单元的一个扫描周期内，照射到样品池的每一个位置的光强相同；

图像采集单元，用于采集样品池中纳米颗粒的图像；

图像处理单元，与所述图像采集单元连接，用于分析所述图像以得到样品池中每个颗粒的粒径，以及根据每个颗粒的粒径，得到样品池中颗粒的粒径分布；

其中，所述扫描单元的主光轴与会聚单元的主光轴在同一直线上。

2.根据权利要求1所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，所述纳米颗粒追踪装置还包括：

截取单元，用于截取所述第三激光束中光强平坦的部分，并将截取的激光束出射到所述样品池。

3.根据权利要求1或2所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，

所述扫描单元为扫描振镜或转镜。

4.根据权利要求1或2所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，

所述会聚单元为会聚透镜。

5.根据权利要求1或2所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，

所述扫描单元与会聚单元之间的距离为会聚单元的焦距的0.5倍至两倍。

6.根据权利要求2所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，

所述截取单元为光阑。

7.根据权利要求1或2所述的纳米颗粒追踪装置，其特征在于，所述装置还包括：

反射单元，设置于激光器的输出光路上，用于将激光器发射的第一激光束反射到所述扫描单元的表面。