[发明专利]基于BWDSP处理器的测试用例设计方法

说明书

本发明属于软件测试技术领域，公开了基于BWDSP处理器的测试用例设计方法，包括：读取BWDSP处理器的库函数说明文件，根据库函数说明文件确定被测函数各参数的参数类型及约束条件；按照等价类划分原则划分对应的有效等价类和无效等价类；确定有效等价类中的边界值和非边界值以及无效等价类中的边界值和非边界值；确定有效等价类中的特殊点；设计被测函数各参数的合法测试用例和非法测试用例。本发明能够解决现有方法存在的测试用例设计不全或冗余以及耗时的问题，能够使测试用例需求覆盖率趋向最大化，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种测试用例设计方法，具体来说，是基于BWDSP处理器的测试用例设计方法。

背景技术

随着数字信号处理技术迅速地发展，DSP处理器被广泛地应用于图像处理、通讯技术、雷达探测、语音处理、网络控制、仪器仪表和家电等领域。

多核BWDSP104X是由中国电子科技集团公司第38研究所自主研制的一系列性能优越的DSP处理器，包括BWDSP1041、BWDSP1042以及BWDSP1048型号的DSP处理器，适用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等多个领域。在使用BWDSP104X系列的DSP处理器进行开发应用时，需要提供具有通用标准参数的优化算法函数库。而如何有效地设计测试用例是实现BWDSP104X系列的DSP处理器的优化算法函数库功能的关键。

在对BWDSP104X系列的DSP处理器的优化算法函数库进行测试的过程中，发明人发现，现有的测试用例设计方法，如等价类划分、边界值分析、因果图等，存在测试用例设计不全或冗余以及耗时的问题。

发明内容

为此，本发明提供基于BWDSP处理器的测试用例设计方法，用于对BWDSP104X系列的DSP处理器的优化算法函数库进行测试，以解决现有方法存在的测试用例设计不全或冗余以及耗时的问题，能够使测试用例需求覆盖率趋向最大化，提高测试效率。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

提供一种基于BWDSP处理器的测试用例设计方法，包括以下步骤：

步骤1，读取BWDSP处理器的库函数说明文件，根据所述库函数说明文件确定被测函数各参数的参数类型及约束条件；其中，所述被测函数为BWDSP处理器的任一库函数；

步骤2，根据所述被测函数各参数的约束条件，按照等价类划分原则划分对应的有效等价类和无效等价类；

步骤3，确定所述有效等价类中的边界值和非边界值以及所述无效等价类中的边界值和非边界值；

步骤4，根据所述被测函数各参数的参数类型，确定所述有效等价类中的特殊点；

步骤5，利用所述被测函数各参数对应的有效等价类中的边界值、非边界值以及特殊点，设计所述被测函数各参数的合法测试用例；利用所述被测函数各参数对应的无效等价类中的边界值、非边界值，设计所述被测函数各参数的非法测试用例。

本发明提供的上述方法通过考虑库函数中的多种约束条件建立等价类划分原则，充分考虑到BWDSP库函数测试用例的正确性、完整性、适用性、可移植性等特点，能够代表并覆盖合理和不合理、合法和非法的、边界和越界等测试情况，不仅确保测试用例的可移植性，而且能够保证测试用例的完整性和简洁性；从数据结构方面考虑，在边界值分析的基础上增加对特殊点的考察，使测试用例更加严谨；本发明提供的基于BWDSP处理器的测试用例设计方法可用于对BWDSP104X系列的DSP处理器的优化算法函数库进行测试，解决现有方法存在的测试用例设计不全或冗余以及耗时的问题，能够使测试用例需求覆盖率趋向最大化，提高测试效率，有助于测试人员快速，高效的设计测试用例，从而有效检测该软件应用环境性能的稳定性。

附图说明