[发明专利]一种片材的检测设备和检测方法

说明书

本申请提供一种片材的检测设备和检测方法，通过移送X轴将多片待检测片材沿X轴方向双向移送，并通过检测Y轴机构将所述多片待检测片材沿Y轴方向双向移送，通过检测Z轴机构分步或同步对所述多片待检测片材进行检测，并标记出不良品，在分步检测完所述多片待检测片材或同步检测完所述多片待检测片材后，通过不良品盒容纳检测Z轴机构标记并剔除出来的不良品。通过上述方式，本申请能够实现对片材的高准确率检测，降低生产成本，利于产品的推广使用。

技术领域

本申请涉及智能制造检测技术领域，具体涉及一种片材的检测设备和检测方法。

背景技术

随着科学技术的高速发展，各种片材应运而生。

现有的片材产品隔热效果不佳，有的透光率较低，有的则需要昂贵的设备，工艺条件的控制也很复杂。这些因素均不利于产品向市场大面积推广。

另一方面，对片材的检测也存在比较大的技术缺陷，检测设施落后，比如经常会损坏片材，或者检测准确率不高，而影响生产效率。

针对现有技术的上述问题，本技术领域亟需一种新的片材的检测设备和检测方法。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种片材的检测设备和检测方法，通过提供一种专门的检测设备，能够实现对片材的高准确率检测，降低生产成本，利于产品的推广使用。

为解决上述技术问题，本申请提供一种片材的检测设备，所述检测设备包括：

移送X轴，用于将多片待检测片材沿X轴方向双向移送；

检测Y轴机构，与所述移送X轴交互设置，用于将所述多片待检测片材沿Y轴方向双向移送；

检测Z轴机构，与所述检测Y轴机构交互设置，用于分步或同步对所述多片待检测片材进行检测，并标记出不良品；

不良品盒，与所述检测Z轴机构对应设置，用于在分步检测完所述多片待检测片材、或同步检测完所述多片待检测片材时，容纳所述检测Z轴机构标记并剔除出的不良品。

为解决上述技术问题，本申请提供一种片材的检测方法，所述检测方法采用上述的检测设备，所述检测方法包括步骤：

通过移送X轴将多片待检测片材沿X轴方向双向移送，并通过检测Y轴机构将所述多片待检测片材沿Y轴方向双向移送；

通过检测Z轴机构分步或同步对所述多片待检测片材进行检测，并标记出不良品；

在分步检测完所述多片待检测片材、或同步检测完所述多片待检测片材后，通过不良品盒容纳所述检测Z轴机构标记并剔除出来的不良品。

本申请片材的检测设备和检测方法，通过移送X轴将多片待检测片材沿X轴方向双向移送，并通过检测Y轴机构将所述多片待检测片材沿Y轴方向双向移送，通过检测Z轴机构分步或同步对所述多片待检测片材进行检测，并标记出不良品，在分步检测完所述多片待检测片材或同步检测完所述多片待检测片材后，通过不良品盒容纳所述检测Z轴机构标记并剔除出的的不良品。通过上述方式，本申请能够实现对片材的高准确率检测，降低生产成本，利于产品的推广使用。

附图说明

图1为一实施例中片材的检测设备的结构示意图，其中，还显示了料盘和片材。

图2为图1检测设备的检测Z轴机构一实施例结构示意图。

图3为图2检测Z轴机构的除不良品机构一实施例的结构示意图，其中，还显示了相连接的其他结构。

图4为图2检测Z轴机构的料盘检测机构一实施例的结构示意图，其中，还显示了相连接的其他结构。

图5为一实施例中片材的检测方法的流程示意图。

具体实施方式