[发明专利]显示屏测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提出一种显示屏测试方法、装置、电子设备及存储介质，属于电子技术领域。其中，该方法包括：获取待测显示屏的固件数据；对固件数据进行解析处理，确定待测显示屏对应的状态转换信息，其中，状态转换信息中包括状态转换时间；根据待测显示屏对应的状态转换时间，调整测试过程中下行数据访问待测显示屏所在的电子设备的模式。由此，通过这种显示屏测试方法，避免了待测显示屏出现概率性不亮屏的问题，不仅提高了显示屏测试结果的可靠性，而且提高了测试效率，降低了企业的经济损失。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种显示屏测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的不断发展，各种电子设备不断推陈出新，适应着人们的各种需求，为人们的生活带来了极大的便利。例如，手机、平板电脑等电子产品已经成为人们生活中必不可少的必需品。电子设备在给人们带来便利的同时，其使用时的稳定性、安全性也需要得到保证。

为了尽量排除电子设备在使用过程中可能出现的功能异常或安全隐患，在电子设备出厂前，通常需要对电子设备的各项功能以及硬件性能等进行出厂前测试。其中，在对电子设备的显示屏进行测试时，申请人发现测试过程中有时会出现概率性不亮屏的问题，从而需要对显示屏进行反复测试，不仅浪费时间，而且会造成企业的经济损失。

发明内容

本申请提出的显示屏测试方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决相关技术中，在对电子设备的显示屏进行测试的过程中，有时会出现概率性不亮屏的问题，从而导致需要对显示屏进行反复测试，不仅浪费时间，而且会造成企业的经济损失的问题。

本申请一方面实施例提出的显示屏测试方法，包括：获取待测显示屏的固件数据；对所述固件数据进行解析处理，确定所述待测显示屏对应的状态转换信息，其中，所述状态转换信息中包括状态转换时间；根据所述待测显示屏对应的状态转换时间，调整测试过程中下行数据访问所述待测显示屏所在的电子设备的模式。

本申请另一方面实施例提出的显示屏测试装置，包括：获取模块，用于获取待测显示屏的固件数据；确定模块，用于对所述固件数据进行解析处理，确定所述待测显示屏对应的状态转换信息，其中，所述状态转换信息中包括状态转换时间；调整模块，用于根据所述待测显示屏对应的状态转换时间，调整测试过程中下行数据访问所述待测显示屏所在的电子设备的模式。

本申请再一方面实施例提出的电子设备，其包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如前所述的显示屏测试方法。

本申请再一方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如前所述的显示屏测试方法。

本申请又一方面实施例提出的计算机程序，该程序被处理器执行时，以实现本申请实施例所述的显示屏测试方法。

本申请实施例提供的显示屏测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序，可以对获取到的待测显示屏的固件数据进行解析处理，并确定待测显示屏对应的状态转换信息，进而根据状态转换信息中的状态转换时间，调整测试过程中下行数据访问待测显示屏所在的电子设备的模式。由此，通过根据待测显示屏对应的状态转换时间，调整测试过程中下行数据访问待测显示屏所在的电子设备的模式，从而避免了待测显示屏出现概率性不亮屏的问题，不仅提高了显示屏测试结果的可靠性，而且提高了测试效率，降低了企业的经济损失。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本申请实施例所提供的一种显示屏测试方法的流程示意图；