[发明专利]基于单层石墨烯的脉冲自相关测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201810679635.7 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108896192B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 吴侃;肖普山;陈建平;庞拂飞;刘奂奂;陈娜 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学;上海大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 单层石墨烯 反射镜 自相关 准直透镜 光电探测器 偏振分光镜 测量装置 超短脉冲 可控延时 测量 公共点 输出端 信号光 薄膜 汇聚 非线性材料 数据采集卡 两路信号 脉冲展宽 薄膜贴 玻璃基 光输出 控制端 脉冲光 前表面 输入光 计算机 脉冲 输出 | ||
1.一种超短脉冲自相关测量装置，其特征在于，包括：沿待测脉冲光的方向依次是第一准直透镜(1)和偏振分光镜(2)，该偏振分光镜(2)将输入光分成两路信号光输出，沿第一路信号光方向依次经第一反射镜(31)、第二准直透镜(51)、汇聚到单层石墨烯薄膜(6)的公共点,该单层石墨烯薄膜(6)贴在玻璃基底(61)的前表面，沿第二路信号光方向依次经第二反射镜(32)、可控延时反射镜(4)、第三反射镜(33)、第三准直透镜(52)、汇聚于单层石墨烯薄膜(6)的公共点并输出到光电探测器(7)，该光电探测器(7)的输出端经数据采集卡(8)与计算机(9)相连，该计算机(9)的输出端与所述的可控延时反射镜(4)的控制端相连。
2.利用权利要求1所述的超短脉冲自相关测量装置对超短脉冲宽度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)将待测光脉冲输入到第一准直透镜(1)的输入端，经偏振分光棱镜(2)分成两路：一路光经过第一反射镜(31)、第二准直透镜(51)汇聚到单层石墨烯薄膜(6)的公共点，另一路光经第二反射镜(32)、可控延时反射镜(4)、第三反射镜(33)、第三准直透镜(52)、汇聚于单层石墨烯薄膜(6)的公共点并输出至所述的光电探测器(7)；
2)所述的计算机(9)输出控制信号，控制所述的可控延时反射镜(4)的延时到最小延时，所述的计算机(9)经所述的数据采集卡(8)读取所述的光电探测器(7)的数据；
3)所述的计算机(9)控制所述的可控延时反射镜(4)增加延时Δt，并经所述的数据采集卡(8)读取所述的光电探测器(7)的数据，重复此步骤，直到所述的可控延时反射镜(4)的延时达到最大值；
4)所述的计算机(9)绘制不同延时与从数据采集卡(8)得到的数据的关系曲线，计算得到曲线的半高全宽值，然后应用理论计算的脉冲演化关系，得到待测超短脉冲宽度的实际值。
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