[发明专利]光检测装置

权利要求书

1.一种能够检测作为入射光的入射光子的光检测装置(1A～1E)，包括：

多个光接收部(2)，所述多个光接收部中的每一个包括：被配置成检测入射光子的单光子雪崩二极管(4)，以及信号输出部(6，8)，所述信号输出部被配置成在所述单光子雪崩二极管检测到入射光子并对入射光子做出响应时生成并且发送脉冲信号；以及

多个边沿检测部(20A～20E，40)，所述多个边沿检测部被布置成与所述多个光接收部一一对应，并且被配置成：每当所述多个边沿检测部中的每一个接收到以预定周期发送的时钟信号时，对从先前接收到的时钟信号到当前接收到的时钟信号的时段期间的边沿的数目进行检测，每个边沿仅表示从先前接收到的时钟信号到当前接收到的时钟信号的时段期间从第一状态到第二状态的改变，所述信号输出部在所述第一状态下不发送脉冲信号，并且所述信号输出部在所述第二状态下向对应的边沿检测部发送脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，所述多个边沿检测部中的每一个包括能够检测所述边沿的时钟同步电路(20A～20E)。

3.根据权利要求1所述的光检测装置，还包括响应次数检测部(20C，70，40)，所述响应次数检测部被配置成：每当所述响应次数检测部接收到以所述预定周期发送的时钟信号时，基于所述脉冲信号的数目来检测对入射光子做出响应的单光子雪崩二极管的数目。

4.根据权利要求2所述的光检测装置，还包括响应次数检测部(20C，70，40)，所述响应次数检测部被配置成：每当所述响应次数检测部接收到以所述预定周期发送的时钟信号时，基于所述脉冲信号的数目来检测对入射光子做出响应的单光子雪崩二极管的数目。

5.根据权利要求3所述的光检测装置，其中，所述响应次数检测部还包括能够检测从所述多个边沿检测部发送的所述脉冲信号的时钟同步电路(20C，70)。

6.根据权利要求3所述的光检测装置，还包括时刻检测部(56，57)，所述时刻检测部被配置成：基于所述多个边沿检测部检测到所述边沿时的边沿检测时刻以及在每个所述边沿检测时刻的所述边沿的数目来对光检测时刻进行检测，所述光检测时刻表示所述光检测装置检测到作为入射光子的入射光时的时刻。

7.根据权利要求5所述的光检测装置，还包括时刻检测部(56，57)，所述时刻检测部被配置成：基于所述多个边沿检测部检测到所述边沿时的边沿检测时刻以及在每个所述边沿检测时刻的所述边沿的数目来对光检测时刻进行检测，所述光检测时刻表示所述光检测装置检测到作为入射光子的入射光时的时刻。

8.根据权利要求6所述的光检测装置，还包括时刻校正部(57)，所述时刻校正部使用满足与所述边沿的数目的时间序列变化有关的预定条件的临时时刻来对校正时间进行检测，所述校正时间表示所述临时时刻与入射光的量变为最大值时的真正时刻之间的时间差，并且所述时刻校正部(57)通过所述校正时间来校正所述临时时刻，使得经校正的临时时刻是所述光检测时刻。

9.根据权利要求8所述的光检测装置，还包括校正计算部，所述校正计算部被配置成根据所述光检测装置的光接收环境来计算所述校正时间。

10.根据权利要求9所述的光检测装置，其中，所述校正计算部根据照射到所述光检测装置的入射光的量来计算所述校正时间。

11.根据权利要求8所述的光检测装置，还包括光强度检测部，所述光强度检测部被配置成根据响应次数来检测入射光的强度，所述响应次数表示对作为入射光子的入射光做出响应的单光子雪崩二极管的数目。

12.根据权利要求11所述的光检测装置，其中，所述光强度检测部将从所述边沿检测部检测到所述边沿时的时刻延迟后的时刻的响应次数检测作为入射光的强度。