[发明专利]一种电路板测试引脚系统及测试方法

说明书

一种电路板测试引脚系统，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同，还公开了一种该电路板测试引脚系统的测试方法，步骤为：对测试引脚进行定义、将待测试引脚与测试引脚进行压接、进行性能测试，本发明的优点在于解决了现有技术中引脚对接不方便且易出现测试不良的情况，利用引脚系统可以自动检测出引脚顺序，自动调整程序引脚定义，提高测试效率，减少测试不良的产生。

技术领域

本发明涉及电路板测试技术领域，特别涉及一种电路板测试引脚系统及测试方法。

背景技术

目前显示模组测试工装上FPC连接的方式一般为依靠显示模组外形通过定位挡板确定FPC引脚大致位置,另一端为相同PIN(引脚)的PCB(印制电路板)或FPC。然后PIN对PIN进行压接，这个方法误差比较大，对位不准确，FPC必须通过对位记号，采用定位挡板，通过模组外形配合对位记号定位，效率低，易出错，经常短路造成模组不必要的损伤。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术的不足，提供一种高测试效率、能有效保护模组不受损伤的电路板测试引脚系统及测试方法。

本发明解决上述问题所采用的技术方案是：一种电路板测试引脚系统，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同。

在一些实施例中，所述测试引脚的列数大于待测试引脚列数的三倍。

在一些实施例中，所述测试引脚的宽度小于待测试引脚的二分之一，所述测试引脚的长度小于待测试引脚的五分之一。

在一些实施例中，所述测试引脚宽度为待测试引脚的三分之一，所述测试引脚长度为待测试引脚的五分之一。

在一些实施例中，所述测试引脚各列之间的间距为待测试引脚宽度的三分之一。

一种电路板测试引脚系统的测试方法，包括以下步骤:

(1)将每相邻两列所述测试引脚定义为一测试组，其组数为K，K＝1,2，3…，N，任一所述测试组自上往下将测试引脚进行编号定义，编号为J,J＝1,2,3…，N，任一所述测试引脚定义为PINJ-K；

(2)将待测试引脚的金手指面与所述测试引脚的金手指面水平方向一致放置并进行压接；

(3)控制PIN1-1至PIN1-N输出高电平，控制PIN3-1至PIN3-N、PIN4-1至PIN4-N为输入，并检测对应引脚信号，记录PIN2及PIN3行所检测到的高电平信号，进行性能测试；

(4)若PIN2及PIN3未能检测成功，此时断开PIN1行电压，并将PIN2行进行施压，检测PIN4、PIN5行，进行性能测试，若PIN4、PIN5行未能检测成功，继续类推进行测试。

在一些实施例中，所述测试引脚与待测试引脚呈规律性分分布。

本发明的有益效果在于：解决了现有技术中引脚对接不方便且易出现测试不良的情况，利用引脚系统可以自动检测出引脚顺序，自动调整程序引脚定义，提高测试效率，减少测试不良的产生。

附图说明

图1为本发明引脚系统示意图；

图2为本发明测试时测试引脚与待测试引脚正常配合系统图；

图3为本发明待测试引脚斜放时与测试引脚配合系统图；

图中，1、测试引脚；2、控制板；3、电路板。

具体实施方式