[发明专利]内圈段差深度差异测定器在审

专利信息
申请号: 201810609551.6 申请日: 2018-06-13
公开(公告)号: CN110595330A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 赵圣学 申请(专利权)人: 上海东培企业有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18;G01B5/08
代理公司: 31283 上海弼兴律师事务所 代理人: 胡美强;曾莺华
地址: 201613 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 万向节轴承 定位件 段差 内圈 测量组件 深度差异 支撑架 底座 测定器 定位端 校准 测试标准 滑动连接 快速量测 穿设 量测 保证
【说明书】:

发明公开了一种内圈段差深度差异测定器,其包括:底座;支撑架,支撑架的一端滑动连接于底座;定位件,定位件的一端固定于底座,另一端能够穿设于万向节轴承,且另一端的外表面沿定位件的周向设有定位端,定位件用于固定万向节轴承,且定位端用于抵靠于万向节轴承的内圈段差的端面;测量组件,测量组件固定于支撑架,且相对于定位件设置,测量组件用于测试标准的万向节轴承与待校准的万向节轴承分别固定于定位件时的位置。本发明的内圈段差深度差异测定器通过设置整体结构,能够快速量测待校准的万向节轴承的内圈段差与标准的万向节轴承的内圈段差的深度差异,并能有效保证量测的准确性及稳定性。

技术领域

本发明涉及一种内圈段差深度差异测定器。

背景技术

轴承的内圈的质量对轴承的性能、寿命等均有较大的影响,因此对内圈的尺寸精度有较高要求。尤其是一些特殊的轴承,量具的准确及稳定性,对制品的品质有重大影响。

现有技术中,没有专门针对轴承的内圈段差的深度进行校对的测量工具,仅能借助轮廓仪或其他量具进行测量,而轮廓仪或其他量具使用不便且量测耗时长,影响生产效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中没有专门针对轴承的内圈段差的深度进行校对的测量工具,仅能借助轮廓仪或其他量具进行测量,而轮廓仪或其他量具使用不便且量测耗时长,影响生产效率的缺陷,提供一种内圈段差深度差异测定器。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:

一种内圈段差深度差异测定器,用于测量标准的万向节轴承的内圈段差和待校准的万向节轴承的内圈段差之间的深度差异,其特点在于,所述内圈段差深度差异测定器包括:

底座;

支撑架,所述支撑架的一端滑动连接于所述底座;

定位件,所述定位件的一端固定于所述底座,另一端能够穿设于所述万向节轴承,且另一端的外表面沿所述定位件的周向设有定位端,所述定位件用于固定所述万向节轴承,且所述定位端用于抵靠于所述万向节轴承的内圈段差的端面;

测量组件,所述测量组件固定于所述支撑架,且相对于所述定位件设置,所述测量组件用于测量所述标准的万向节轴承与所述待校准的万向节轴承分别固定于所述定位件时的位置。

在本技术方案中,通过定位件固定万向节轴承,并通过定位端抵靠于万向节轴承的内圈段差的端面,对标准的万向节轴承的内圈段差和待校准的万向节轴承的内圈段差的起始端面进行了同一定位,保证量测的准确性;并通过测量组件测量标准的万向节轴承固定于定位件时的位置作为标准位置,再通过测量组件测量待校准的万向节轴承固定于定位件时的位置得知其与标准的万向节轴承的位置的差异,而进行对待校准的万向节轴承的调整,以达到与标准的万向节轴承的一致性。本技术方案的测量方式,相较于现有技术中,将标准的万向节轴承的内圈段差的深度和待校准的万向节轴承的内圈段差的深度分别通过量具量出、再进行对比的方式,更为快捷、更为准确;另外,避免了通过量具直接测试接触面很小的万向节轴承的内圈段差的端面,而大大提高了测试的准确性。

较佳地,所述定位件沿所述定位件的轴向包括相连接的安装部和内径防呆部,所述安装部的外径大于所述内径防呆部的外径,且所述内径防呆部的外径等于所述标准的万向节轴承的内圈的最小直径,所述安装部靠近所述内径防呆部的一端设有所述定位端。

在本技术方案中,定位件的内径防呆部根据标准的万向节轴承的内圈的最小直径设置,能够快速测量出待校准的万向节轴承的内圈段差的深度与标准的万向节轴承的内圈段差的深度之间的差异,同时还能够通过内径防呆部测得待校准的万向节轴承的内圈直径是否符合要求,而达到万向节轴承的内圈直径的防呆效果。

较佳地,所述安装部沿所述定位件的轴向设有安装孔,且所述安装部靠近所述底座的一端沿所述安装部的周向间隔设有至少一个固定孔,所述固定孔的中心轴线垂直于所述定位件的中心轴线。

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