[发明专利]一种信号偏差的校正方法、装置及设备

权利要求书

1.一种信号偏差的校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；

从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；

计算所述位置信息对应的校正系数；

利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。

2.根据权利要求1所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括：

根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；

根据所述图像上的各个像素点的取值，计算所述位置信息对应的校正系数。

3.根据权利要求2所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

生成所述影像增强器的输出屏产生的图像对应的二维数组查找表，所述二维数组查找表用于记录所述图像上的各个像素点的取值；

相应的，所述根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值，具体为：

根据所述位置信息，查询所述二维数组查找表以确定所述图像上的各个像素点的取值。

4.根据权利要求1-3任一项所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述图像具有感兴趣区域和有效区域，所述感兴趣区域为所述图像的中心预设区域，所述有效区域为所述图像上未被所述限束器的铅页遮挡的区域；

所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括：

计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和；其中，处于所述有效区域内且处于所述感兴趣区域的像素点的第一取值为1，否则第一取值为0；

以及，计算所述图像上的各个像素点的第二取值之和；其中，处于所述感兴趣区域内的像素点的第二取值为1，否则第二取值为0；

计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和与第二取值之和的商值，作为所述位置信息对应的校正系数的倒数；

根据所述校正系数的倒数，确定所述位置信息对应的校正系数。

5.根据权利要求4所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述计算所述位置信息对应的校正系数之后，还包括：

判断所述校正系数的倒数是否不大于预设最小阈值；

如果所述校正系数的倒数不大于所述预设最小阈值，则将所述校正系数的取值确定为所述预设最小阈值。

6.根据权利要求1所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间，包括：

将所述校正系数和所述亮度信号分别作为乘法器的输入，经过所述乘法器的处理后，输出自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。

7.一种信号偏差的校正装置，其特征在于，所述装置包括：

亮度信号获取单元，用于获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；

限束器的位置信息获取单元，用于从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；

计算单元，用于计算所述位置信息对应的校正系数；

校正单元，用于利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。

8.根据权利要求7所述的信号偏差的校正装置，其特征在于，所述计算单元包括：

第一确定子单元，用于根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；

第一计算子单元，用于根据所述图像上的各个像素点的取值，计算所述位置信息对应的校正系数。