[发明专利]分析生物流体样品的方法

权利要求书

1.一种分析生物流体样品的方法，包括：

提供由具有第一内表面的第一腔室面板和具有第二内表面的第二腔室面板限定的分析腔室；

将生物流体样品设置在所述分析腔室内，并将所述生物流体样品静止地容纳在所述分析腔室中，其中所述生物流体样品与至少一种荧光染料混合，所述至少一种荧光染料配置成与所述生物流体样品相互作用；

将多个珠粒设置在所述第一腔室面板的内表面和所述第二腔室面板的内表面之间，每个珠粒具有外表面，所述珠粒配置成未以明显地干扰所述生物流体样品的光度分析的量反射入射至所述珠粒的光，其中，每个所述珠粒配置成抑制所述至少一种荧光染料附接至所述珠粒的外表面；

在所述生物流体样品与所述珠粒静止地置于所述分析腔室内的同时，使用入射至所述生物流体样品的光的一种或多种波长形成所述生物流体样品的一个或多个图像，并且所述珠粒设置在所述分析腔室内，使得每个珠粒的外表面在形成所述图像期间与所述生物流体样品直接接触；以及

使用所述生物流体样品的所述一个或多个图像的至少一部分来分析静止地放置的所述生物流体样品。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述多个珠粒配置成吸收足够大的量的所述入射光，使得入射至所述珠粒而未被吸收的任何光未明显地干扰所述生物流体样品的光度分析。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述多个珠粒包含对足够大的量的所述入射光为非反射的材料，使得入射至所述珠粒而被反射的任何光未明显地干扰所述生物流体样品的光度分析。

4.如权利要求2所述的方法，其中所述多个珠粒包含这样的量的荧光淬灭材料，使得所述珠粒未以明显地干扰所述生物流体样品的光度分析的量反射入射至所述珠粒的光。

5.如权利要求1所述的方法，其中所述第一腔室面板具有外表面，所述第二腔室面板具有外表面，并且抗反射涂层被设置在所述第一腔室面板的外表面上和/或所述第二腔室面板的外表面上。

6.如权利要求1所述的方法，其中所述多个珠粒包括聚苯乙烯材料。

7.如权利要求6所述的方法，其中所述多个珠粒具有表面正电荷。

8.一种分析生物流体样品的方法，包括：

提供由具有第一内表面的第一透明腔室面板和具有第二内表面的第二透明腔室面板限定的分析腔室；

将所述生物流体样品设置在所述分析腔室内，并将所述生物流体样品静止地容纳在所述分析腔室中；

将多个珠粒设置在所述第一透明腔室面板的内表面和所述第二透明腔室面板的内表面之间，每个珠粒具有外表面，所述珠粒配置成未以明显地干扰所述生物流体样品的光度分析的量反射入射至所述珠粒的光；

在所述生物流体样品与所述珠粒静止地置于所述分析腔室内的同时，通过将一种或多种波长的光透射通过所述生物流体样品而形成所述生物流体样品的一个或多个图像，并且所述珠粒设置在所述分析腔室内，使得每个珠粒的外表面在形成所述图像期间与所述生物流体样品直接接触，其中，使用透射通过所述生物流体样品的光的采集部分形成所述一个或多个图像；以及

使用所述生物流体样品的所述一个或多个图像的至少一部分来分析静止地放置的所述生物流体样品。

9.如权利要求8所述的方法，其中所述多个珠粒包含对足够大的量的所述入射光为非反射的材料，使得入射至所述珠粒而被反射的任何光未明显地干扰所述生物流体样品的光度分析。

10.如权利要求8所述的方法，其中每个珠粒被配置成抑制材料附接至所述珠粒的外表面，其中，所述材料在用激发光照亮时发出荧光。

11.如权利要求10所述的方法，其中所述多个珠粒包括聚苯乙烯材料。

12.如权利要求11所述的方法，其中所述多个珠粒具有表面正电荷。